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公开/公告号CN112461381A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-03-09
原文格式PDF
申请/专利权人 中国计量大学;
申请/专利号CN202011244287.4
发明设计人 陈君;张莹莹;郝然;金尚忠;赵春柳;石岩;
申请日2020-11-10
分类号G01J9/02(20060101);G02B27/10(20060101);G02B27/28(20060101);
代理机构
代理人
地址 310018 浙江省杭州市学源街258号中国计量大学
入库时间 2023-06-19 10:10:17
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-03-11
授权
发明专利权授予
机译: 一种在软接触模式下进行半导体样品的电抗性和表面光电压谱的非破坏性测量的装置
机译: 一种用于测量和消除不包含零频率谱分量的二进制信号的二进制失真的装置
机译:穿过单缝的洛伦兹-高斯涡旋光束的轨道角动量密度和螺旋谱
机译:彗差对涡旋光束轨道角动量谱的影响
机译:具有环形光栅的涡旋光束的轨道角动量(OAM)状态测量的理论和实验演示
机译:一种用于测量高能宇宙射线核电荷谱的气球式气体塞伦科夫遥测望远镜。
机译:用环形光栅测量涡旋光束的轨道角动量(OAM)状态
机译:用a测量电子涡旋光束的轨道角动量 叉形光栅
机译:用于储能装置健康状态评估的快速阻抗谱测量。