一种量子比特工作参数检测方法

摘要

本发明属于芯片测试领域，具体公开了一种量子比特工作参数检测方法。所述量子比特设置于量子芯片上，所述量子比特包括相互耦合的量子比特探测器和量子比特装置，所述量子比特装置上设置有第一控制信号传输线和第二控制信号传输线；通过所述第一控制信号传输线施加单比特工作点电压的直流电压偏置信号，所述直流电压偏置信号设置为单比特工作点电压，并通过第二控制信号传输线施加量子比特调控信号，测量量子比特装置的频率初值；进而通过第一控制信号传输线施加单比特点工作电压，通过第二控制信号传输线施加频率等于所述频率初值的量子比特调控信号，并对所述量子比特调控信号做分解处理，检测所述量子芯片的弛豫时间和相干时间，提供了一种标准的检测方法。