一种对瓷砖进行自由落体垂直撞击的测试装置

摘要

本技术公开一种对瓷砖进行自由落体垂直撞击的测试装置，包括有测试台、支撑架和调节横梁，调节横梁在支撑架上上下移动调节高度，在调节横梁和支撑架之间设置有锁紧机构，在调节横梁上设置有多条对应下方瓷砖不同区域的分支水平杆，在分支水平杆上设置有电磁吸附器，通电状态下电磁吸附器吸附着自由落体件，在分支水平杆上成型有沿长度方向设计的调节槽，电磁吸附器设置在调节槽的下方，在调节槽上设置有杆体穿过调节槽的锁紧螺丝，电磁吸附器安装在锁紧螺丝底部，本测试装置仿照物品掉落的状态对瓷砖进行自由落体撞击测试，而且是瓷砖多区域的同步测试，测试结果真实可靠，测试效率高。

说明书

技术领域：

本发明涉及一种对瓷砖进行自由落体垂直撞击的测试装置。

背景技术：

瓷砖是一种常用的建筑材料，由于瓷砖是贴附在建筑物室内或者室外表面，所以要求瓷砖必须要具有一定的硬度，特别是对于铺设在底板上的地板砖，因需要考虑日常生产中生活物品掉落会撞击地板砖，所以对地板砖的硬度要求就更高了。传统测试地板砖的方式都是采用硬度计来进行测试，这种测试方式既不真实，也不能做到每个区域的测试压力一致，测试出来的结果往往与真实使用情况不一样，不能真实反应出瓷砖承受外物掉落撞击的能力。而且利用硬度表测试需要在瓷砖不同区域分布进行测试，测试效率非常低。

发明内容：

本发明的目的是为了克服上述现有技术的缺点，提供一种可仿照真实撞击效果的瓷砖撞击测试装置。

本发明的发明目的可以通过以下的技术方案来实现：一种对瓷砖进行自由落体垂直撞击的测试装置，包括有测试台、支撑架和调节横梁，调节横梁在支撑架上上下移动调节高度，在调节横梁和支撑架之间设置有锁紧机构，在调节横梁上设置有多条对应下方瓷砖不同区域的分支水平杆，在分支水平杆上设置有电磁吸附器，通电状态下电磁吸附器吸附着自由落体件。

在分支水平杆上成型有沿长度方向设计的调节槽，电磁吸附器设置在调节槽的下方，在调节槽上设置有杆体穿过调节槽的锁紧螺丝，电磁吸附器安装在锁紧螺丝底部。

锁紧机构包括有套筒和顶锁螺杆，套筒套装在支撑架的垂直杆上，顶锁螺杆从套筒侧壁穿进，调节横梁安装在套筒上。

在垂直杆上的杆体表面刻制有刻度。

采用本技术方案后，与现有技术相比，本技术方案具有以下优点：本测试装置仿照物品掉落的状态对瓷砖进行自由落体撞击测试，而且是瓷砖多区域的同步测试，测试结果真实可靠，测试效率高。

附图说明：

图1是本发明对瓷砖进行自由落体垂直撞击测试装置的正视结构图；

图2是本发明对瓷砖进行自由落体垂直撞击测试装置的上视结构图。

具体实施方式：

下面对本技术作进一步说明。

本实施例的对瓷砖进行自由落体垂直撞击的测试装置，包括有测试台1、支撑架2和调节横梁3，支撑架2包括有左右两条垂直杆21和辅助支撑杆22，两条垂直杆21分别立于测试台1两侧，在每一条垂直杆21的旁边都设置有辅助支撑杆22，辅助支撑杆22倾斜支撑住垂直杆21，在两条垂直杆21上都刻制有标示高度的刻度4，同时每一条垂直杆21上都套装有套筒5，调节横梁3焊接在两套筒5之间，在套筒5的外侧壁体上穿进有顶锁螺杆6，这样调节横梁3就可以在支撑架2的垂直杆21上实现上下移动调节高度，在调节横梁3上设置有多条对应下方瓷砖不同区域的分支水平杆7，在分支水平杆7上成型有沿长度方向设计的调节槽8，电磁吸附器9设置在调节槽8的下方，在调节槽8上方设置有杆体朝下穿过调节槽8的锁紧螺丝10，电磁吸附器9安装在锁紧螺丝10底部，通电状态下电磁吸附器9吸附着自由落体件，本实施例的自由落体为铁球11。

测试前，把需要测试的瓷砖a放置在测试台1上，并位于所有电磁吸附器9的正下方，若瓷砖a尺寸太小，可以旋松锁紧螺丝10，然后推动电磁吸附器9，使其沿分支水平杆7移动调整位置，最终使电磁吸附器9位于瓷砖a正上方。

进行正式测试，首先通电，使各电磁吸附器9产生强磁场，接着测试人员把各个铁球11放置到各个电磁吸附器9下方，这样电磁吸附器9就会吸住铁球11，然后就可以断电，一旦切断供电，所有的电磁吸附器9都会失去磁场，进而使所有铁球11都自由掉落，通过观察跌落点的破损程度，就可以获知被测瓷砖的硬度是否满足使用要求了。

本测试方式需要设定标准，标准可以有两种设定方式:

第一种是高度标准，即同样的铁球11在不同的高度掉落来，利用高度数据来测定瓷砖硬度是否符合要求。

第二种是铁球11的重量标准，即在调节横梁3高度不变的情况下，更换不同重量的铁球11进行测试，利用铁球11重量作为瓷砖硬度标准数据。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。故凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明之形状、构造及原理所作的等效变化，均应涵盖于本发明的保护范围内。