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一种SAR干涉测量结果与光学影像位置偏移综合纠正方法

摘要

本发明涉及SAR数据处理技术领域,具体涉及一种SAR干涉测量结果与光学影像位置偏移综合纠正方法,包括:获取DEM数据,并进行SAR影像模拟;将模拟SAR影像和原始SAR影像进行配准;对原始SAR影像进行正射校正;将经过正射校正的原始SAR影像和光学影像进行配准;进行干涉测量并对结果进行纠正。本发明通过综合利用外部DEM数据和高精度的GCP数据,实现对原始SAR影像的正射校正,然后进行正射SAR影像和光学影像配准,得到两者之间的偏移纠正关系,从而可以在一定程度上解决了正射SAR影像与光学影像叠加显示时位置偏移问题,提高SAR干涉测量结果与光学影像叠加显示精度,具有重要的实际应用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN112433213A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202011129939.X

  • 申请日2020-10-21

  • 分类号G01S13/90(20060101);G01S7/41(20060101);G01S7/40(20060101);

  • 代理机构51214 成都九鼎天元知识产权代理有限公司;

  • 代理人卿诚

  • 地址 610036 四川省成都市金牛区营康西路496号

  • 入库时间 2023-06-19 10:05:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-05-23

    授权

    发明专利权授予

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