基于剪切散斑干涉技术的复杂表面无损检测系统及方法

摘要

本发明公开了一种基于剪切散斑干涉技术的复杂表面无损检测系统及方法，包括光照模块、剪切散斑测量模块、控制及信号处理模块；光照模块发出出射光以照射在被测物体表面待检测区域；剪切散斑测量模块采集被测物体漫反射的光进而形成剪切散斑干涉图，并将剪切散斑干涉图提供给控制及信号处理模块，控制及信号处理模块进行处理并提取缺陷信息。