显示面板的检测方法、电子设备的检测装置及存储介质

摘要

本申请公开了一种显示面板的检测方法、电子设备的检测装置及存储介质。该方法包括：对显示面板进行温冲处理；对温冲处理后的显示面板点亮；对点亮的显示面板的显示画面进行图像识别，以检测显示画面中的斑点。通过上述方式，本申请能够有效地检测出显示面板的斑点，从而为筛选显示面板提供可靠依据。

说明书

技术领域

本申请涉及检测领域，特别是涉及一种显示面板的检测方法、电子设备的检测装置及存储介质。

背景技术

在全面屏显示技术领域，对于摄像头的放置就显得至关重要。通常会通过在屏幕上分割区域，并在该区域下埋设摄像头模组，从而实现全面屏的设计。并且为了增加透过性，一般在前置摄像头的位置，将屏幕面板做成低像素显示。

因为实现全面屏的主要技术难点在于，一是低像素区域的透过率只能达到20％～30％，并且透明区域的电路结构的衍射效应，对于屏下摄像模组的拍照效果影响偏大，二是低像素区域的显示效果与主屏区域有较大的差异，比如临近区的过渡线、色域、亮度以及像素的颗粒度等问题，会对显示效果有影响。

目前，屏下摄像的技术方案中，一般是通过减少像素或者改变像素排布增加空隙，从而增加透过的光量。但是由于屏下屏幕的叠层设计与正常屏幕有所调整，在工艺生产过程中，对驱动像素单元也会有不同于常规工艺参数的指标，如此调整，往往容易造成显示面板中有隐藏缺陷，导致驱动像素单元上电不足，使得显示面板亮度不均，从而在使用过程中出现斑点的不良情况。

发明内容

本申请实施例的第一方面提供了显示面板的检测方法，该方法包括：对显示面板进行温冲处理；对温冲处理后的显示面板点亮；对点亮的显示面板的显示画面进行图像识别，以检测显示画面中的斑点。

本申请实施例的第二方面提供了电子设备的检测装置，该检测装置包括：图像识别模块，用于获取显示面板的显示画面的图像，其中，显示面板经过温冲处理并进行点亮；图像处理模块，连接图像识别模块，用于对图像进行识别，以检测显示画面中的斑点。

本申请实施例的第三方面提供了另一种电子设备的检测装置，包括：处理器和存储器，存储器中存储有计算机程序，处理器用于执行计算机程序以实现本申请实施例第一方面以及本申请实施例第二方面的检测方法。

本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序能够被处理器执行时实现本申请实施例第一方面以及本申请实施例第二方面提供的方法。

本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请针对显示面板亮度不均导致在使用过程中出现斑点的不良情况，将显示面板进行温冲处理，模拟更为严酷的环境，使得显示面板的真实状况提前暴露，并对这种提前暴露的真实状况进行点亮处理，使得缺陷状况进行放大显示，再对放大显示的缺陷进行图像识别，从而检测出显示面板的显示画面的斑点。通过上述方式，本申请能够有效地检测出显示面板的斑点，从而为筛选显示面板提供可靠依据，进而避免后续的工艺浪费及良率损失。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请显示面板的检测方法第一实施例的流程示意图；

图2是图1中步骤S11一具体实施例的流程示意图；

图3是图2中步骤S12以及步骤S13一具体实施例的流程示意图；

图4是图3中步骤S13另一具体实施例的流程示意图；

图5是本申请显示面板的检测方法第二实施例的流程示意图；

图6是图5中步骤S52一具体实施例的流程示意图；

图7是本申请实现屏下摄像的一种全面屏结构示意图；

图8是本申请实现屏下摄像的一种全面屏各区域像素大小示意图；

图9是本申请显示屏幕的堆叠结构示意图；

图10是本申请像素结构以及白斑缺陷对应的原因标记，其中，图10(a)以及图10(b)为放大20倍的屏下像素结构，图10(c)为白斑缺陷对应的原因标记。

图11是本申请采用正常硬屏工艺(1)以及蒙拉丽莎屏工艺(2)的对比图表；

图12是本申请的电子设备的检测装置一实施例的示意框图；

图13是本申请的检测装置另一实施例的示意框图；

图14是本申请的计算机可读存储介质一实施例的示意框图；

图15是本申请检测装置的硬件架构的示意框图。

具体实施方式

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。

应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本申请。如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

还应当进一步理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。

为了说明本申请所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。本申请提供一种显示面板的检测方法，请参阅图1，图1是本申请显示面板的检测方法第一实施例的流程示意图。该方法包括以下具体步骤：

S11：对显示面板进行温冲处理；

一般来说，从显示面板到一段使用时间后出现相应的缺陷的过程中，往往在初始阶段其缺陷特征表现并不明显，因为普通的环境因素往往对产品的使用并没有很直观的影响现象出现，例如在常温下，显示面板对常温的耐受程度高，就比较难以出现缺陷或者是缺陷表现并不明显，这就对了检测显示面板造成了较大的困难，例如更快地识别缺陷。

因此，通常在对显示面板进行缺陷搜寻时，会对显示面板进行温冲处理，从而模拟更为严酷的环境条件，例如零下几十摄氏度，例如高于正常温度几十摄氏度，从而使得显示面板的缺陷真实状况相对比于正常情况下提前暴露，这为识别显示面板的缺陷提高了效率。

其中，温冲处理，实际上就是让显示面板处于异于普通条件下进行冲击处理，一方面可以检测显示面板的实际耐用程度，另一方面还可以检测出显示面板的缺陷真时状况。当然其温冲处理的程度状况可以由本领域技术人员根据不同的显示面板状况进行调整。

S12：对温冲处理后的显示面板点亮；

通常，为了能够更为直观的观察于温冲处理对显示面板的影响以及可能出现的现象，可以温冲处理后的对显示面板进行点亮，一旦显示面板在温冲处理的过程中出现缺陷对应的特征，则可以将该缺陷特征进行记录，从而为制造显示面板的过程进行反馈。

值得注意的是，为了对显示面板不同的区域进行点亮，可以在显示面板部分区域对其进行点亮，也可以在显示面板得全部区域对其进行点亮，当然，本领域技术人员还可以根据实际需要的区域对显示面板进行点亮。

S13：对点亮的显示面板的显示画面进行图像识别，以检测显示画面中的斑点。

对于点亮的显示面板，温冲处理的程度不同，显示面板出现缺陷所需要的时间也有所不同，在显示面板出现缺陷对应的特征现象时，显示面板可以呈现显示画面，可以对显示面板的显示画面进行图像识别，从而来检测显示画面中的斑点。

显示画面中的斑点，代表了制作该显示面板的制作工艺，记录了制作该显示面板所经历的制作流程，这些制作流程往往在最初的使用阶段无法立即发现，通过在这种温冲处理的比较极端的环境条件下，可以及时发现制作显示面板的过程中所出现的不良工艺，从而减少显示面板对整个设备对影响，并因此会提高整个设备的良品率，将损失制止在最初阶段，将显示面板对制作整个设备所带来的差错影响减小到最低程度。

值得注意的是，为了对显示面板的显示画面进行图像识别，可以从显示面板下方对其进行拍照，也可以从显示面板上方对其进行拍照，当然，本领域技术人员还可以根据实际需要从不同方位对显示面板进行拍照。

本申请针对显示面板亮度不均导致在使用过程中出现斑点的不良情况，将显示面板进行温冲处理，模拟更为严酷的环境，使得显示面板的真实状况提前暴露，并对这种提前暴露的真实状况进行点亮处理，使得缺陷状况进行放大显示，再对放大显示的缺陷进行图像识别，从而检测出显示面板的显示画面的斑点。通过上述方式，本申请能够有效地检测出显示面板的斑点，从而为筛选显示面板提供可靠依据，进而避免后续的工艺浪费及良率损失。

更进一步地，其中对显示面板进行温冲处理，具体会涉及到温冲时间的设置以及温度的设置，请参阅图2，图2是图1中步骤S11一具体实施例的流程示意图，该步骤具体包括：

S21：获取温冲时间以及温冲温度；

对于不同的显示面板，可以根据其用途的不同，对显示面板的使用时间以及使用的环境进行模拟，通常，对于显示面板的温冲处理，可以将预先设置温冲时间以及温冲温度，检测装置获取预设的温冲时间以及温冲温度，从而对温冲处理对应的仪器进行设置。

通常，鉴于对于温冲时间以及温冲温度的把控，可以采用高低温温冲仪器对温冲时间以及温冲温度进行设置，通过检测装置下发设置温冲时间以及温冲温度的命令，可以使得高低温温冲仪器获取到预设的温冲时间以及温冲温度。

值得注意的是，如果想要对显示面板进行短时间的温冲处理，可以对高低温温冲仪器设置短时间的温冲处理，例如1分钟，2分钟以及3分钟等等，当然还可以设置其他的时间长度，再者如果想要对显示面板进行寒冷的温冲处理，可以在低温的情况下对高低温温冲仪器设置低于常温的温冲处理，例如零下5摄氏度，零下10摄氏度以及零下15摄氏度等等，当然还可以设置其他的低于常温的温冲温度。

当然，对于预设的温冲时间以及温冲温度，还可以通过划分模式对高低温温冲仪器进行设置，例如对于预设的温冲时间设置为段时间模式、正常模式以及长时间模式等等，而对于预售的温度可以设置为极寒模式、低温模式、常温模式以及高温模式等等，当然根据具体的温冲处理程度以及显示面板的厚度以及耐受等情况，还可以设置不同的温冲处理模式对显示面板进行处理。

S22：采用温冲时间和温冲温度对高低温温冲仪器进行参数设置；

高低温冲击试验又名温度冲击试验或冷热冲击试验，是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应件方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。

针对不同的显示面板，通过采用温冲时间和温冲温度，可以对高低温温冲仪器进行参数设置，从而提前调整好高低温温冲仪器的进行试验的温冲时间以及温冲温度。

S23：将显示面板送入高低温温冲仪器之后，以使高低温温冲仪器对显示面板进行温冲处理。

在对高低温温冲仪器按照对应的预设的温冲时间以及温冲温度设置好之后，可以将显示面板送入该高低温温冲仪器中，从而使得检测装置根据温冲时间以及温冲温度对显示面板进行温冲处理。

具体地，如果想要自动化对显示面板进行温冲处理，检测装置可以采用机械手对其投入高低温温冲仪器之中，为了保护好检测样品，机械手可以设置可夹持部件，比如第一夹持部件以及第二夹持部件，通过设置的第一夹持部件以及第二夹持之间的距离，从而使得机械手对显示面板进行夹持。为了更进一步地保护检测样品，也即保护好检测装置，可以在第一夹持部件以及第二夹持接触显示面板的表面设置弱软的弹性部件，例如硅胶，从而可以通过硅胶对显示面板进行保护。

当然，根据投入的距离以及显示面板的大小，可以使用不同轴的机械手，通常，可以采用六轴机器手，只要避开其奇点无法到达的区域即可，一般来说一个六轴机器手就可以了，当然也可以采用多个六轴机器手，从而使显示面板平稳地投入到高低温温冲仪器之中。

为了能够减小机械手抖动对显示面板的影响，高低温温冲仪器之中可以设置有透明的放置台，机械手通过将显示面板放置在放置台上，可以对其进行安置。

其中，更进一步地，在对温冲处理后的显示面板点亮以及对点亮的显示面板的显示画面进行图像识别，以检测显示画面中的斑点的步骤中，具体可以请参阅图3，图3是图2中步骤S12以及步骤S13一具体实施例的流程示意图，该步骤具体包括以下细化的步骤：

S31：调节温冲处理后的显示面板的亮度至预设多个灰阶值；

一般来说，检测装置预设有多个灰阶值，用于调节温冲处理后的显示面板的亮度至预设多个灰阶值，以此作为调整灰阶的可靠依据。并且可以预设基础灰阶值作为调整的起点，从预设基础灰阶值开始，按照预设灰阶值间隔，对显示面板进行灰阶值调整，以使显示面板显示多个灰阶图

在上述图1的步骤S12中，为了对显示面板不同的区域进行点亮，可以在显示面板部分区域对其进行点亮，也可以在显示面板得全部区域对其进行点亮，当然，也可以根据实际需要的检测效果对显示面板的区域进行点亮。但是，为了保证在后续的制作电子设备的过程中，保证显示面板的高品质，需要将将显示面板的全部区域进行点亮，通过这样的方式，可以最大限度地找到显示面板的全部区域上的白斑缺陷。

具体地，可以对显示面板得全部区域进行白屏点亮，通过这样的方式，可以将显示面板的显示画面的白斑缺陷进行地毯式搜索，所谓地毯式搜索实际上就是进行全面的搜索。一般来说地毯式搜索要耗费较多的人力和物力，但是由于是检测装置进行的自动化操作，可以有效地提高搜索的效率和缩短检测的时间，进而节省人力资源和物力资源。

S32：对每一灰阶值的显示面板的显示画面进行图像识别，以分别检测每个显示画面中的斑点。

在将显示面板的全部区域进行白屏点亮之后，显示面板则处于光亮状态的过程，在此期间，为了得到不同亮度下的显示画面，可以设置点亮的光照强度不断变化，比如按照每隔多个灰阶值的方式，对显示面板进行亮度变换，从而使显示面板显示多个灰阶图。

例如针对预设灰阶对应的亮度，可以得到此亮度对应的显示画面，也即显示面板对应此亮度的灰阶图。当有多个预设灰阶对应的亮度，则可以得到显示面板对应的多个灰阶图显示，从而得到多个灰阶图，对每一灰阶值的显示面板的显示画面进行图像识别，则以分别检测每个显示画面中的斑点。

其中，在实际生活中，所谓灰阶是将最亮与最暗之间的亮度变化。灰阶代表了由最暗到最亮之间不同亮度的层次级别。这中间层级越多，所能够呈现的画面效果也就越细腻。因此，在按照每隔多个灰阶值的方式，对灰阶值变换调整的步骤中，具体至少可以包括以下两种方式：

例如，按照每隔32个灰阶值的方式，对白屏点亮状态下的显示面板进行亮度变换，具体地，每隔32个灰阶值对光照的亮度进行变换，如此可以将显示面板暴露于不同灰阶状况下对应的亮度下，从而对显示面板的灰阶图像进行捕捉。

或者，为了更为细致地搜寻出白斑缺陷对应的灰阶图像，可以按照更小间隔的灰阶对光照强度进行变换，比如可以按照每隔16个灰阶值的方式，对白屏点亮状态下的显示面板进行亮度变换。

其中，更进一步地，在对显示面板的显示画面进行图像识别，以对检测显示画面中的斑点的步骤中，可以请参阅图4，图4是图3中步骤S13另一具体实施例的流程示意图，该步骤具体包括以下细化步骤：

S41：在显示面板的点亮状态下，利用摄像机对显示面板进行图像拍照，得到灰阶图像；

在显示面板的点亮状态下，此时显示面板对应此亮度对应的显示画面，也即灰阶图。为了记录此时的灰阶图像，通常可以采用摄像机对显示面板进行图像拍照，从而得到记录的灰阶图像。

其中，为了得到高精度的灰阶图像，可以在暗室中采用高精度摄像机对图像进行拍照，因为高精度摄像机提高了拍照的像素精准度，所以可以得到高精度的灰阶图像，以便后续对此灰阶图像进行详细分析以及进行标记等操作。

S42：处理灰阶图像，得到对应的亮度平均值；

对于得到的灰阶图像，因为显示面板对应多个像素点，而各个像素点对应的亮度均有所不同，因此通过处理灰阶图像，对每个像素点的亮度值以及像素点的个数进行统计。

具体地，可以通过总亮度值先除以像素点的总个数，则就可以得到显示面板对应的亮度平均值，当然还可以先统计出像素点的总个数，然后将每个像素点对应的亮度进行读取，将读取到的每哥亮度值除以像素点的总个数，然后将得到的商进行统计合并，则可以得到显示面板对应的亮度平均值。当然，本领域技术人员还可以通过其他的手段来获取显示面板对应的亮度平均值。

S43：将灰阶图像中的各个像素点的亮度值与亮度平均值进行比较，得到异常亮度的像素点；

在得到显示面板对应的亮度平均值的同时，检测装置还对各个像素点的亮度值进行记录，因此可以将灰阶图像中的各个像素点的亮度值与亮度平均值进行比较，从而得到异常亮度对应的像素点。

具体地，例如若像素点的亮度已经远远高于显示面板对应的亮度平均值，则可以确定该像素点的亮度太过异常，有可能是白斑缺陷；而当像素点的亮度趋近于亮度平均值，则可以确定该像素点的亮度正常，认为显示面板对应的像素点符合对制作工艺的期待。

S44：根据异常亮度的像素点的亮度变化，判断得到显示画面是否有白斑缺陷图像。

通常，针对显示面板对应亮度状态下的灰阶图像，可以将该灰阶图像每个像素点对应的亮度变化进行亮度曲线绘制，例如每个亮度状态下的灰阶图像可以对应绘制成三维空间中立体的亮度曲线，根据亮度曲线，可以获得异常亮度的像素点，进一步地根据异常亮度的像素点的亮度变化，可以判断得到显示画面是否有白斑缺陷图像。

具体地，针对得到的亮度平均值，为了辨认确定白斑缺陷图像以及由额外光亮照成的痕迹缺陷，可以预设大于亮度平均值的第一亮度值，当亮度值在亮度平均值与第一亮度值之间，则可以认为该亮度值对应的像素点为亮度不均匀造成的痕迹缺陷；还可以预设大于第一亮度值的第二亮度值，当亮度值在第一亮度值与第二亮度值之间，则可以认为该亮度值对应的像素点为白斑缺陷图像。

其中，更进一步地，请参阅图5，图5是本申请显示面板的检测方法第二实施例的流程示意图，本第二实施例除了包括第一实施例所包含的方法步骤，在对显示面板的显示画面进行图像识别之后，该检测方法具体还包括以下步骤：

S51：基于检测出的白斑缺陷，对灰阶图像进行标记；

通过亮度曲线可知显示面板上的白斑缺陷，因为亮度曲线是由灰阶图像生成，灰阶图像由显示面板在对应的点亮状态下进行高清拍照进行记录，因此，通过亮度曲线对应的位置可以反映出显示面板上的白斑缺陷对应的实际位置。

其中，若对显示面板所在的空间、灰阶图像所在的空间以及亮度曲线所在的空间建立对应的笛卡尔坐标，则可以快速搜寻到亮度曲线亮度异常的坐标点，从而对应找到灰阶图像的位置坐标，进而寻找出显示面板的白斑缺陷的对应坐标。

在找到白斑缺陷的对应坐标的过程中，基于检测出的白斑缺陷，则可以对灰阶图像进行标记，为后续的统计进行铺垫。当然，对灰阶图像进行标记可以在寻找白斑缺陷的过程中同时进行逐一标记，也可以在寻找白斑缺陷完成后进行逐一标记，具体并不做限定。

S52：基于标记的白斑缺陷，对白斑缺陷的个数进行累积计数，以对显示面板进行白斑缺陷提醒；

根据光照亮度的不同，可以得到对应点亮状态下的灰阶图像，通过对应的亮度曲线可找到显示面板上的白斑缺陷，通过对白斑缺陷进行标记，可以整体看出白斑缺陷数量的多少，但具体还是需要进行统计。

具体地，基于标记的白斑缺陷，对白斑缺陷的个数进行累积计数，也即对逐一标记的白斑缺陷的个数进行统计，从而得知真实的白斑缺陷的数量总数，从而使得检测装置根据白斑缺陷的数量总数对显示面板进行白斑缺陷提醒。

值得注意的是，基于标记的白斑缺陷，对白斑缺陷的个数进行累积计数可以在寻找白斑缺陷的过程中同时进行累计计数，也可以在寻找白斑缺陷完成后进行累计计数，具体并不做限定。

S53：在白斑缺陷提醒对应的警示进行人工复检之后，若确定白斑缺陷不满足生产显示面板的要求，则将显示面板归入不良品。

通常检测装置根据白斑缺陷的数量总数对显示面板进行白斑缺陷提醒时，会发送对应的警示，以通知人工复检。对于发送对应的警示，具体地，可以发出声音进行提醒，该声音可以是预先录制进检测装置的语音库，当满足发送对应的警示条件时，则可以调用对应的语音进行提醒，另外还可以是显示警示语，比如可以显示在监测装置的警示面板上，该警示语可以是预先烧录进检测装置的文字库，当满足发送对应的警示条件时，则可以调用对应的警示语进行提醒，此外，还可以有其他的警示方式，具体此处不做限定。

在得知白斑缺陷的警示时，为验证检测装置的正确性，通常还会设置人工复检，对显示屏进行再一次的检测，从而增加了检测显示面板的正确率，减小因检测机器损坏可能导致的意外情况发生几率。

在白斑缺陷提醒对应的警示进行人工复检之后，若确定白斑缺陷不满足生产显示面板的要求，则可以将显示面板归入不良品，如此，可以在前期就为筛选显示面板提供可靠依据，从而避免后续的工艺浪费及良率损失。

其中，更进一步地，在白斑缺陷提醒对应的警示进行人工复检之后，若确定白斑缺陷不满足生产显示面板的要求，则将显示面板归入不良品，具体可以请参阅图6，图6是图5中步骤S52一具体实施例的流程示意图，该步骤具体包括：

S61：基于白斑缺陷提醒对应的警示，判断白斑缺陷的个数是否超过预设个数；

一般来说，检测装置设置有白斑缺陷预设个数，用于判断白斑缺陷的个数的多少，从而为确定显示面板是否为良品提供重要的依据，进而为制造的后续工艺对显示面板的取舍提供理论支持。

在得知白斑缺陷的警示之后，可以基于白斑缺陷提醒对应的警示，获取白斑缺陷的个数，也即白斑缺陷数量的统计总数。然后对获取的白斑缺陷数量的统计总数进行判断是否超过预设个数，若白斑缺陷的个数超过预设个数，则表示显示面板为不良品，则进入步骤S62，也即确定对应的显示面板不满足生产屏幕的要求，并将显示面板归类为不良品；若白斑缺陷的个数没有超过预设个数，则表示显示面板为可使用的良品，则进入步骤S63，也即则确定对应的显示面板满足生产屏幕的要求。

如此，本申请针对显示面板亮度不均导致在使用过程中出现斑点的不良情况，通过增加一道检测工序，将显示面板进行温冲处理，模拟更为严酷的环境，使得显示面板的真实状况提前暴露，并对这种提前暴露的真实状况进行点亮处理，使得缺陷状况进行放大显示，再对放大显示的缺陷进行图像识别，从而检测出显示面板的显示画面的斑点。通过上述方式，本申请能够有效地检测出显示面板的斑点，从而为筛选显示面板提供可靠依据，进而避免后续的工艺浪费及良率损失。

由于此申请所提供的显示面板使用场景常在多样性，其检测装置对涉及的检测白斑缺陷技术的应用场景广泛，因此，在本申请中，具体地可以以一个典型的场景是低温多晶硅(Low Temperature Poly-Silicon，LTPS)对应在全屏智能移动终端上的应用为例，请参阅图7、图8以及图9，图7是本申请实现屏下摄像的一种全面屏结构示意图；图8是本申请实现屏下摄像的一种全面屏各区域像素大小示意图；图9是本申请显示屏幕的堆叠结构示意图。下文将结合具体的应用场景对本申请显示面板的检测方法进行详细描述。

首先提供一个全面屏智能移动终端，为了在屏下放置摄像机，可以设置透明屏区域、过渡区以及主屏区域，如图7所示，图中1区域是透明屏区域，图中2区域是过渡区，图中3区域是正常的主屏区域，区域1采用有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)像素(pixel)加透明电极以增强透过率，将不透明的驱动电路布置到图中区域2过渡区，图中区域3的pixel和薄膜晶体管(ThinFilmTransistor，TFT)驱动电路正常布置。

由于区域1中只剩下透明像素和透明电极，从而极大的提高了透光率，并且通过将不透明的驱动电路边置到过渡区2的设置，及进一步增强了透明区的透过率，将前置摄像头布置到透明区之下，既能实现屏下摄像，同时又实现了全面屏的设计。

如图8以及图9所示，图中区域3是正常显示屏区域，像素按照常规排列，包括并不局限于标准RGB/Delta排列/Pentile排列等方式，例如像素密度可以为403ppi。图中区域1是透明显示屏区域，与过渡区域2的物理像素排布相同，排布方式与区域3相同，但是像素的尺寸增大，变成200ppi物理像素密度。区域1通过并联矩形分割区域内4个物理像素的方式，减少3/4的驱动电路走线，经过并联后的显示区块类似于图3中灰色透明格所示，通过并联多像素区块的方式，可以使得驱动电路的阻抗减小，进而可以极大减少驱动电路的金属走线，增加透明度并且减少衍射效应，经过并联后透明区域3的显示像素密度在100ppi。将透明区域3的驱动电路通过连线连接到过渡区2，布置在过渡区2的像素下。

过渡区2的像素排列方式与常规显示区域3的像素排布方式是一致的，但是像素的颗粒度增大两倍，同时ppi会降低一半，过渡区2本身的像素驱动电路会减少一半，从而空出一半的空间给到透明显示区域1的驱动电路布置。假如一个像素一个灯一个驱动，现在变成4个像素一个灯一个驱动，那么可以减小屏下放置驱动电路的空间。

将透明显示区域1，过渡区域2，常规显示区域3的OLED像素和驱动电路布置按照如图8和图9所示的结构方法进行布置，将驱动电路线接出到显示Drive IC，实现全屏显示的技术方案。其中，图中透明区域1的子像素采用透明电极，包括但不局限于氧化铟锡(ITO)材料等，透明区域1的像素的形状包括但不局限于圆角矩形、椭圆形、圆形以及为了填充高低像素过渡区域的。透明区域1的像素驱动电路，包括但不局限7T1C/5T1C/2T1C等方式。透明区域1显示屏采用AMOLED或者PMOLED。

如图9所示，显示屏幕的堆叠结构中包括过渡区驱动电路21、主屏区驱动电路31、屏下摄像头4以及其他队叠层5。其中屏下摄像头4置于透明区1的正下方，过渡区驱动电路21设置于过渡区2正下方，主屏区驱动电路31设置于主屏区3的正下方，屏幕上还设置其他队叠层5，用于对屏幕进行保护。

在堆叠结构中，可以从下图看到，透明区1相对于主屏去3和过渡区2的TFT驱动电路部分是引出到过渡区2的，而在透明区1只有阳极下面存在反射层，其他地方透过率接近20％，有较强的光透过性。为了增透设计，对于透明区的阳极电路走线均置换成ITO走线层，可以使得ITO透过率更好。在打开摄像头，屏幕是息屏状态。

图1是对于透明区1的设计，可以看到，在像素周围的电路走线层都是透明设计，可以让入射光穿透屏幕区域，但是OLED pixel像素结构如图9所示，在OLED发光单元底下的阳极反射层，反射率接近100％，目的是让OLED发出的光能够都向屏外传播，因此即便是透明屏区域的阳极也是不透光的设计。请参阅图10，图10是本申请像素结构以及白斑缺陷对应的原因标记，其中，图10(a)以及图10(b)为放大20倍的屏下像素结构，图10(c)为白斑缺陷对应的原因标记。这样的设计会造成光学上的周期类光栅结构，对入射光行成衍射效应。

由于需要对屏下区域进行特殊设计，满足透过率的要求，因此屏幕的封装和叠层都需要做调整。请参阅图11，图11是本申请采用正常硬屏工艺(1)以及蒙拉丽莎屏工艺(2)的对比图表，具体的调整和优化如11图所示，可以看到对于正常的硬屏工艺，采用双面玻璃的封装，但是在屏下的方案中，只有基底采用玻璃，在上部采用薄膜封装(TFE)，为了提高透过率。其他的叠层也做一定的优化调整，但是玻璃粉(frit)封装改成TFE封装是其中最大的改变，会造成玻璃边缘的加工难度增大，从而造成玻璃边缘有应力集中点。

对于LTPS缺陷，由于在常温时表现并不明显，因此，在初始阶段并不能表现出相应的缺陷，本案中针对此问题，增加一道检测工序，该检测工序主要包括以下步骤：

1.首先，将屏幕投入到高低温温冲中，进行短期温度冲击，如果存在P-Si缺陷，则在比较短的温冲内就会表现出缺陷小白斑的情况；

2.第二，将屏幕全部进行白屏点亮，进行灰阶图显示，按照每个32或者16个灰阶的方式进行灰阶图变换；

3.在暗室中采用高精度摄相机。对屏幕的各个灰阶进行图像拍照；

4.根据亮度平均值差异方法识别其中的异常亮度点。由于在此阶段本身存在mura，需要区分mura与小白斑的差异，其中mura表示显示器亮度不均匀，造成各种痕迹现象；

5.存在陡峭的峰值亮度变化，认定为小白斑缺陷；平坦或者起伏的亮度变化，认定为mura；

6.识别出其中的小白斑缺陷后，在图片中对应位置做标识。并警示缺陷；

7.人工检根据机器提醒进行复检，如果复检确认为小白斑缺陷，则在此工序停止屏幕生产流程，归入不良品中进行处置。

其中，如图10(c)所示，在全高清(Full High Definition，FULL HD)的条件下，造成屏幕小白斑现象可能由P-Si的缺陷造成，而产生的机理针对DTFT可能是P-Si异物(部分屏体无明显异物)或P-Si晶化异常等导致DTFT(M5)特性改变，Vdata电压写入不充分形成小白斑或者亮点；而针对STFT可能是M2、M8或M4、M6开关TFT存在异常漏电，导致Vdata写入栅极的电位无法保持而下降，从而形成亮点，P-Si异物(部分屏体无明显异物)或P-Si晶化异常等导致Scan1/Scan2控制STET漏电，导致DTFT栅极电压无法保持，形成小白斑/亮点；而针对写入不足导致亮点/小白斑机理为V

因此，本申请针对屏下摄像屏幕中，由于工艺参数调整造成的小白斑问题，通过在低温存储环境中对于LTPS的缺陷进行暴露，并在点屏过程中通过图像识别的方式，直接识别其中的显示亮度缺陷，不仅可以倒推其中形成小白板的原因和机理，还可以实现对于不良品的前置监测，避免后续工艺中继续工艺造成额外损失。

综上所述，在目前屏下摄像方案中，由于屏下屏幕的特殊设计，造成屏幕的叠层和封装采用新的工艺流程和参数。针对其中出现的LTPS小白斑缺陷，通过低温温冲加图像识别的方式，在工艺过程中直接检测，从而保证不良屏幕的提前检测出来，避免后续的工艺浪费及良率损失。

请参阅图12，图12是本申请电子设备的检测装置一实施例的示意框图。本申请实施例提供了一种电子设备的检测装置6，包括：

图像识别模块61，用于获取显示面板的显示画面的图像，其中，所述显示面板经过温冲处理并进行点亮；

图像处理模块62，连接图像识别模块61，用于对图像进行识别，以检测显示画面中的斑点。

本申请针对显示面板亮度不均导致在使用过程中出现斑点的不良情况，通过对显示面板进行温冲处理，模拟更为严酷的环境，使得显示面板的真实状况提前暴露，并对这种提前暴露的真实状况进行点亮处理，使得缺陷状况进行放大显示，再利用图像识别模块61对放大显示的缺陷进行图像识别，从而使得图像处理模块62处理检测出显示面板的显示画面的斑点。通过上述方式，本申请能够有效地检测出显示面板的斑点，从而为筛选显示面板提供可靠依据，进而避免后续的工艺浪费及良率损失。

进一步地，请参见图13，图13是本申请移动终端另一实施例的示意图。本申请实施例提供另一种移检测装置7，包括：处理器71和存储器72，存储器72中存储有计算机程序721，处理器71用于执行计算机程序721以本申请实施例第一方面以及本申请实施例第二方面的定制方法，在此不再赘述。

请参阅图14，图14是本申请的计算机可读存储介质一实施例的示意框图。如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在计算机可读存储介质80中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储装置中，包括若干指令(计算机程序81)用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本申请各个实施方式方法的全部或部分步骤。而前述的存储装置包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种介质以及具有上述存储介质的电脑、手机、笔记本电脑、平板电脑、相机等电子设备。

关于计算机可读存储介质中的计算机程序的执行过程的阐述可以参照上述本申请检测装置80的方法实施例中阐述，在此不再赘述。

请参阅图15，图15是本申请检测装置的硬件架构的示意框图，该检测装置900可以为工业电脑、平板电脑以及笔记本电脑等，本实施例图示以工业电脑为例。该检测装置900的结构可以包括射频(radio frequency，RF)电路910、存储器920、输入单元930、显示单元940、传感器950、音频电路960、WiFi(wireless fidelity)模块970、处理器980以及电源990等。其中，RF电路910、存储器920、输入单元930、显示单元940、传感器950、音频电路960以及WiFi模块970分别与处理器980连接；电源990用于为整个移动终端900提供电能。

具体而言，RF电路910用于接发信号；存储器920用于存储数据指令信息；输入单元930用于输入信息，具体可以包括触控面板931以及操作按键等其他输入设备932；显示单元940则可以包括显示面板等；传感器950包括红外传感器、激光传感器等，用于检测用户接近信号、距离信号等；扬声器961以及传声器(或者麦克风)962通过音频电路960与处理器980连接，用于接发声音信号；WiFi模块970则用于接收和发射WiFi信号，处理器980用于处理检测装置的数据信息。

以上所述仅为本申请的部分实施例，并非因此限制本申请的保护范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效装置或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。