一种基于硬件电路的SIFT算法关键点检测方法

摘要

本发明公开一种基于硬件电路的SIFT算法关键点检测方法，包括：通过寄存器一次性采集多尺度图像层和多点图像像素的方式，将构建差分高斯尺度空间所需的图像层次及其像素点统一在一个关键点检测空间内，通过极值点检测和两次极值点精确化定位极值点来确定精准的关键点，大大降低了获取待检测点区域信息的复杂度。与现有技术相比，本技术方案有效减少了极值点检测过程中的数据采集和分析的时间，降低了硬件流程复杂度，从而提高了算法的效率，节省了硬件电路面积，提高了SIFT算法关键点检测实时性。