液晶面板和液晶面板阵列基板行驱动电路检测方法

摘要

本申请公开一种液晶面板和液晶面板阵列基板行驱动电路检测方法，该液晶面板具有有效显示区以及第一阵列基板行驱动电路和第二阵列基板行驱动电路，有效显示区设置有多根扫描线，第一阵列基板行驱动电路对应多根所述扫描线设有多个第一输出端，第二阵列基板行驱动电路对应多根所述扫描线设有多个第二输出端，液晶面板还包括：多个第一开关器件，每一第一开关器件对应电性连接于第一输出端与扫描线之间；多个第二开关器件，每一第二开关器件对应电性连接于第二输出端与扫描线之间；以及导通控制模块。本申请旨在检测双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板中阵列基板行驱动电路的故障，以实现故障的阵列基板行驱动电路及时检测并更换或维修。

说明书

技术领域

本申请涉及显示器领域，特别涉及一种液晶面板和液晶面板阵列基板行驱动电路检测方法。

背景技术

现在的液晶面板的工艺架构，以Gate driver design(栅极驱动器设计)来分，可以分为SOC(System on chip，即系统级芯片)驱动扫面线和阵列基板行驱动(Gate driveron array，即阵列基板栅极驱动器)两种。就产品需求的角度来看，边框越小，也是大家所期望的，所以相较SOC版设计，阵列基板行驱动由于具有较小的边界宽度，可以省去栅极驱动器芯片，降低成本，所以带有阵列基板行驱动的液晶面板势必是未来的主流趋势。

现有的双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板。如果一侧的阵列基板行驱动电路出现问题，另一侧的阵列基板行驱动电路还是会持续输出电压至液晶面板的扫描线，以驱动液晶面板内的薄膜晶体管导通或关断。所以当液晶面板一侧的阵列基板行驱动电路发生故障时，我们并不知道哪一侧的阵列基板行驱动电路发生故障。从而即使一侧阵列基板行驱动电路发生故障也无从知晓，无法实现及时检测并更换或维修。

发明内容

本申请的主要目的是提出一种液晶面板和液晶面板阵列基板行驱动电路检测方法，旨在检测双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板中阵列基板行驱动电路的故障，以实现故障的阵列基板行驱动电路及时检测并更换或维修。

为实现上述目的，本申请提出的一种液晶面板，其特征在于，该液晶面板具有有效显示区以及分别设于所述有效显示区两侧的第一阵列基板行驱动电路和第二阵列基板行驱动电路，所述有效显示区设置有多根扫描线，所述第一阵列基板行驱动电路对应多根所述扫描线设有多个第一输出端，所述第二阵列基板行驱动电路对应多根所述扫描线设有多个第二输出端，所述液晶面板还包括：

多个第一开关器件，每一所述第一开关器件对应电性连接于所述第一输出端与所述扫描线之间；

多个第二开关器件，每一所述第二开关器件对应电性连接于所述第二输出端与所述扫描线之间；以及

导通控制模块，所述导通控制模块具有使得所述第一阵列基板行驱动电路和所述第二阵列基板行驱动电路交替与所述扫描线电性导通的第一使能端和第二使能端。

在一些实施例中，所述第一使能端与多个所述第一开关器件的控制端分别连接，所述第二使能端与多个所述第二开关器件的控制端分别连接，且所述第一使能端和所述第二使能端的输出电平相反。

在一些实施例中，所述第一开关器件为第一场效应管，所述第一开关器件的控制端为第一场效应管的栅极，所述第一场效应管的源极连接所述第一输出端，所述第一场效应管的漏极连接所述扫描线；

所述第二开关器件为第二场效应管，所述第二开关器件的控制端为第二场效应管的栅极，所述第二场效应管的源极连接所述第二输出端，所述第二场效应管的漏极连接所述扫描线。

在一些实施例中，所述第一开关器件为第一三极管，所述第一开关器件的控制端为第一三极管的基极，所述第一三极管的发射极连接所述第一输出端，所述第一三极管的集电极连接所述扫描线；

所述第二开关器件为第二三极管，所述第二开关器件的控制端为第二三极管的栅极，所述第二三极管的发射极连接所述第二输出端，所述第二三极管的集电极连接所述扫描线。

在一些实施例中，所述导通控制模块选用覆晶薄膜，所述第一使能端和所述第二使能端为覆晶薄膜的输出端。

在一些实施例中，导通控制模块包括信号源和反相器电路，所述反相器电路具有输入端和第三输出端，所述信号源分别与所述第一使能端和所述输入端连接，所述第三输出端与所述第二使能端连接。

在一些实施例中，所述反相器电路包括N沟道场效应管、P沟道场效应管和电压源，所述N沟道场效应管的栅极与所述P沟道场效应管的栅极相连构成所述输入端，所述N沟道场效应管的源极与所述P沟道场效应管的源极相连构成所述第三输出端，所述N沟道场效应管的漏极接地，所述P沟道场效应管的漏极与所述电压源连接。

在一些实施例中，每一所述第一开关器件和每一所述第二开关器件分别连接有电压测试引脚。

本申请还提出一种液晶面板，该液晶面板具有有效显示区以及分别设于所述有效显示区两侧的第一阵列基板行驱动电路和第二阵列基板行驱动电路，所述有效显示区设置有多根扫描线，所述第一阵列基板行驱动电路对应多根所述扫描线设有多个第一输出端，所述第二阵列基板行驱动电路对应多根所述扫描线设有多个第二输出端，所述液晶面板还包括：

多个第一开关器件，每一所述第一开关器件对应电性连接于所述第一输出端与所述扫描线之间；

多个第二开关器件，每一所述第二开关器件对应电性连接于所述第二输出端与所述扫描线之间；以及

导通控制模块，所述导通控制模块具有使得所述第一阵列基板行驱动电路和所述第二阵列基板行驱动电路交替与所述扫描线电性导通的第一使能端和第二使能端；

所述第一使能端与多个所述第一开关器件的控制端分别连接，所述第二使能端与多个所述第二开关器件的控制端分别连接，且所述第一使能端和所述第二使能端的输出电平相反；

所述第一开关器件为第一场效应管，所述第一开关器件的控制端为第一场效应管的栅极，所述第一场效应管的源极连接所述第一输出端，所述第一场效应管的漏极连接所述扫描线；

所述第二开关器件为第二场效应管，所述第二开关器件的控制端为第二场效应管的栅极，所述第二场效应管的源极连接所述第二输出端，所述第二场效应管的漏极连接所述扫描线；

所述导通控制模块选用覆晶薄膜，所述第一使能端和所述第二使能端为覆晶薄膜的输出端。

本申请还提出一种液晶面板阵列基板行驱动电路检测方法，适用于前述的液晶面板，所述液晶面板阵列基板行驱动电路检测方法包括：

所述第一使能端输出高电平，所述第二使能端输出低电平，测试所述第一阵列基板行驱动电路是否正常工作；

所述第一使能端输出低电平，所述第二使能端输出高电平，测试所述第二阵列基板行驱动电路是否正常工作。

本申请通过设置所述第一使能端和第二使能端，使得所述第一阵列基板行驱动电路和所述第二阵列基板行驱动电路交替与所述扫描线电性导通，例如当所述第一阵列基板行驱动电路与所述所述扫描线电性导通，而所述第一阵列基板行驱动电路与所述所述扫描线电性关断时，检测所述第一阵列基板行驱动电路是否正常工作以驱动所述有效显示区正常显示，从而检测双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板中阵列基板行驱动电路的故障，以实现故障的阵列基板行驱动电路及时检测并更换或维修。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为典型的现有的双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板的结构示意图；

图2为本申请的液晶面板一实施例的结构示意图；

图3为本申请的导通控制模块一实施例的结构示意图；

图4为本申请的液晶面板阵列基板行驱动电路检测方法一实施例的流程图。

附图标号说明：

本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明，本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

另外，在本申请中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

请参照图1，图1为典型的现有的双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板101。左阵列基板行驱动电路(即图1中的左GOA电路)和右阵列基板行驱动电路(即图1中的右GOA电路)同时驱动有效显示区内的扫描线连接的薄膜晶体管。左阵列基板行驱动电路和右阵列基板行驱动电路同时驱动相对只有单侧阵列基板行驱动电路驱动的驱动效果更好。然而天下罕有完美之事，双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板带来了新的问题。如果一侧的阵列基板行驱动电路出现问题，另一侧的阵列基板行驱动电路还是会持续输出电压至液晶面板的扫描线，以驱动液晶面板内的薄膜晶体管导通或关断。所以当液晶面板一侧的阵列基板行驱动电路发生故障时，我们并不知道哪一侧的阵列基板行驱动电路发生故障。从而即使一侧阵列基板行驱动电路发生故障也无从知晓，无法实现及时检测并更换或维修。

为此，需要检测双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板中阵列基板行驱动电路的故障，以实现故障的阵列基板行驱动电路及时检测并更换或维修。鉴于此，下面通过几个实施例对本申请进行说明。

实施例1

请参照图2，在本申请的实施例中，一种液晶面板100，该液晶面板具有有效显示区10以及分别设于所述有效显示区10两侧的第一阵列基板行驱动电路20(图2用第一GOA电路20表示)和第二阵列基板行驱动电路30(图2中用第二GOA电路30表示)，所述有效显示区10设置有多根扫描线12(如图2中g1，g2，......，gn-1，gn)，所述第一阵列基板行驱动电路20对应多根所述扫描线12设有多个第一输出端，所述第二阵列基板行驱动电路30对应多根所述扫描线12设有多个第二输出端。

其中，所述第一阵列基板行驱动电路20对应多根所述扫描线12设有多个第一输出端指的是，所述第一阵列基板行驱动电路20具有与所述扫描线12数量相等的第一输出端，以供所述第一输出端输出的电压经过扫描线12使得所述有效显示区10中的薄膜晶体管导通或关断；同理，所述第二阵列基板行驱动电路30对应多根所述扫描线12设有多个第二输出端指的是，所述第二阵列基板行驱动电路30具有与所述扫描线12数量相等的第二输出端，以供所述第二输出端输出的电压经过扫描线12使得所述有效显示区10中的薄膜晶体管导通或关断。

所述液晶面板还包括：多个第一开关器件40，多个第二开关器件50以及导通控制模块60。

其中，每一所述第一开关器件40对应电性连接于所述第一输出端与所述扫描线12之间。从前面的描述可知，所述第一输出端与所述扫描线12是一一对应的关系。因此，每一所述第一开关器件40对应电性连接于所述第一输出端与所述扫描线12之间指的是，所述第一开关器件40的数量也与所述第一输出端和所述扫描线12的数量对应相等，且用于连接一一对应的所述第一输出端和所述扫描线12。

每一所述第二开关器件50对应电性连接于所述第二输出端与所述扫描线12之间。同理，从前面的描述可知，所述第一输出端与所述扫描线12是一一对应的关系。因此，每一所述第二开关器件50对应电性连接于所述第二输出端与所述扫描线12之间指的是，所述第二开关器件50的数量也与所述第二输出端和所述扫描线12的数量对应相等，且用于连接一一对应的所述第二输出端和所述扫描线12。

导通控制模块60，所述导通控制模块60具有使得所述第一阵列基板行驱动电路20和所述第二阵列基板行驱动电路30交替与所述扫描线12电性导通的第一使能端61和第二使能端62。

通过设置所述第一使能端61和第二使能端62，使得所述第一阵列基板行驱动电路20和所述第二阵列基板行驱动电路30交替与所述扫描线12电性导通，例如当所述第一阵列基板行驱动电路20与所述所述扫描线12电性导通，而所述第一阵列基板行驱动电路20与所述所述扫描线12电性关断时，检测所述第一阵列基板行驱动电路20是否正常工作以驱动所述有效显示区10正常显示，从而检测双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板中阵列基板行驱动电路的故障，以实现故障的阵列基板行驱动电路及时检测并更换或维修。

具体地，在一些实施例中，所述第一使能端61与多个所述第一开关器件40的控制端分别连接，所述第二使能端62与多个所述第二开关器件50的控制端分别连接，且所述第一使能端61和所述第二使能端62的输出电平相反。所述第一开关器件40和所述第二开关器件50的通断状态受其对应控制端电平状态的影响，通过设置所述第一使能端61和所述第二使能端62的输出电平相反，所述第一开关器件40和所述第二开关器件50通断状态相反。

例如，当所述第一使能端61为高电平而所述第二使能端62为低电平时，位于有效显示区10一侧的所述第一开关器件40导通，所述第一阵列基板行驱动电路20的各个第一输出端输出电压到所述扫描线12连接的薄膜晶体管，所述有效显示区10正常显示；而位于有效显示区10另一侧的所述第一开关器件40关断，因此所述第二阵列基板行驱动电路30的各个第二输出端无法输出电压到所述扫描线12连接的薄膜晶体管。此时可通过检测所述有效显示区10是否正常显示，以此来测试所述第一阵列基板行驱动电路20是否发生故障。反之，当所述第一使能端61低电平而所述第二使能端62为高电平时，位于有效显示区10另一侧的所述第二开关器件50导通，此时可通过检测所述有效显示区10是否正常显示，以此来测试所述第二阵列基板行驱动电路30是否发生故障。

通过设置所述第一使能端61和所述第二使能端62的输出电平相反，在同一时刻只有一侧的所述第一阵列基板行驱动电路20或所述第二阵列基板行驱动电路30与所述扫描线12电性连通，此时实现对单侧导通的所述第一阵列基板行驱动电路20或所述第二阵列基板行驱动电路30进行检测；当所述第一使能端61和所述第二使能端62的输出电平再次翻转时，对另一侧的所述第一阵列基板行驱动电路20或所述第二阵列基板行驱动电路30进行检测，通过对所述第一阵列基板行驱动电路20或所述第二阵列基板行驱动电路30分别进行单侧检测，本申请可检测双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板中阵列基板行驱动电路的故障，以实现故障的阵列基板行驱动电路及时检测并更换或维修，提高故障的检测效率。

进一步地，所述第一开关器件40可设置为第一场效应管，所述第一开关器件40的控制端为第一场效应管的栅极，所述第一场效应管的源极连接所述第一输出端，所述第一场效应管的漏极连接所述扫描线12；

所述第二开关器件50可设置为第二场效应管，所述第二开关器件50的控制端为第二场效应管的栅极，所述第二场效应管的源极连接所述第二输出端，所述第二场效应管的漏极连接所述扫描线12。

需要说明的是，第一场效应管和所述第二场效应管可设置为N沟通增强型场效应管。当所述第一场效应管和所述第二场效应管栅极输入高电平时，所述第一场效应管和所述第二场效应管导通，所述第一阵列基板行驱动电路20和所述第二阵列基板行驱动电路30分别与所述扫描线12电性连通。当所述第一场效应管和所述第二场效应管栅极输入低电平时，所述第一场效应管和所述第二场效应管关断，所述第一阵列基板行驱动电路20和所述第二阵列基板行驱动电路30分别与所述扫描线12电性隔离。当然，所述第一场效应管和所述第二场效应管还可设置为P沟通增强型场效应管。此时所述第一场效应管和所述第二场效应管栅极的导通电压电平与N沟通增强型场效应管相反。

可以理解的，所述第一开关器件40和所述第二开关器件50还可以设置为其他器件。例如，在一些实施例中，所述第一开关器件40可设置为第一三极管，所述第一开关器件40的控制端为第一三极管的基极，所述第一三极管的发射极连接所述第一输出端，所述第一三极管的集电极连接所述扫描线12；所述第二开关器件50可设置为第二三极管，所述第二开关器件50的控制端为第二三极管的栅极，所述第二三极管的发射极连接所述第二输出端，所述第二三极管的集电极连接所述扫描线12。需要说明的是，所述第一三极管和所述第二三极管可设置为NPN管。当然，所述第一三极管和所述第二三极管还可设置为PNP管。此时所述第一三极管和所述第二三极管基极的导通电压电平与N沟通增强型场效应管相反。

在本实施例中，所述导通控制模块选用覆晶薄膜(Chip On Film)，所述第一使能端和所述第二使能端为覆晶薄膜的输出端。覆晶薄膜在所述第一使能端61和所述第二使能端62输出相反的电平，使得所述第一阵列基板行驱动电路20和所述第二阵列基板行驱动电路30交替与所述扫描线12电性导通，通过对所述第一阵列基板行驱动电路20或所述第二阵列基板行驱动电路30分别进行单侧检测，本申请可检测双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板中阵列基板行驱动电路的故障，以实现故障的阵列基板行驱动电路及时检测并更换或维修，提高故障的检测效率。

所述第一阵列基板行驱动电路20和所述第二阵列基板行驱动电路30均包括多个级联的阵列基板行驱动单元，第一输出端和第一输出端为每一阵列基板行驱动单元的输出端。在检测出故障的一侧阵列基板行驱动电路之后，为了进一步准确的找出阵列基板行驱动电路中具体某一阵列基板行驱动单元出现故障，如图2所述，每一所述第一开关器件40和每一所述第二开关器件50分别连接有电压测试引脚70。通过从电压测试引脚检测阵列基板行驱动单元的输出电压，可检测阵列基板行驱动单元是否发生故障，从而找出具体的故障位置。例如，当检测到所述第一阵列基板行驱动电路20出现故障，即对所述所述第一开关器件40的每一电压测试引脚，从而找出故障在第一阵列基板行驱动电路20上的故障位置，方便维修人员进行更换修理，提高故障的检测效率。

实施例2

本实施例建立在实施例1的基础之上，下面仅对本实施例与实施例1的区别部分进行描述，与实施例1相同的部分进行省略或略写。

请参照图3，在本实施例中，导通控制模块60包括信号源65和反相器电路66，所述反相器电路66具有输入端661和第三输出端662，所述信号源65分别与所述第一使能端61和所述输入端661连接，所述第三输出端662与所述第二使能端62连接。可以理解的，所述信号源65也可分别与所述第二使能端62和所述输入端661连接，所述第三输出端662可与所述第一使能端61连接。所述信号源65可选用提供稳定电压的各种电源。

具体地，所述反相器电路包括N沟道场效应管663、P沟道场效应管664和电压源665，所述N沟道场效应管663的栅极与所述P沟道场效应管664的栅极相连构成所述输入端，所述N沟道场效应管663的源极与所述P沟道场效应管664的源极相连构成所述第三输出端，所述N沟道场效应管663的漏极接地，所述P沟道场效应管664的漏极与所述电压源665连接。所述电压源665是可选用提供稳定电压的各种电源。

当所述信号源输出高电平时，所述第一使能端61输出高电平，位于有效显示区10一侧的所述第一开关器件40导通；而所述信号源输出高电平经过所述反相器电路后在所述第三输出端输出低电平，从而所述第二使能端62输出低电平，位于有效显示区10另一侧的所述第二开关器件50关断，此时可通过检测所述有效显示区10是否正常显示，以此来测试所述第一阵列基板行驱动电路20是否发生故障。反之，当所述信号源输出低电平时，所述第一使能端61输出低电平，位于有效显示区10一侧的所述第一开关器件40关断；而所述信号源输出低电平经过所述反相器电路后在所述第三输出端输出高电平，从而所述第二使能端62输出高电平，位于有效显示区10另一侧的所述第二开关器件50导通，此时可通过检测所述有效显示区10是否正常显示，以此来测试所述第二阵列基板行驱动电路30是否发生故障。

通过设置所述第一使能端61和所述第二使能端62的输出电平相反，在同一时刻只有一侧的所述第一阵列基板行驱动电路20或所述第二阵列基板行驱动电路30与所述扫描线12电性连通，通过对所述第一阵列基板行驱动电路20或所述第二阵列基板行驱动电路30分别进行单侧检测，本申请可检测双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板中阵列基板行驱动电路的故障，以实现故障的阵列基板行驱动电路及时检测并更换或维修，提高故障的检测效率。

需要说明的是，上述反相器为CMOS(Complementary Metal OxideSemiconductor，互补金属氧化物半导体)反相器。在其他的设置中，所述反相器电路还可以是其他具有反相器功能的电路，例如由TTL(Transistor-Transistor Logic，晶体管-晶体管逻辑)反相器等。

实施例3

请参照图4，本申请还提出一种液晶面板阵列基板行驱动电路检测方法，适用于前述的液晶面板，所述液晶面板阵列基板行驱动电路检测方法包括：

S10、所述第一使能端61输出高电平，所述第二使能端62输出低电平，测试所述第一阵列基板行驱动电路20是否正常工作；

当所述第一使能端61为高电平而所述第二使能端62为低电平时，位于有效显示区10一侧的所述第一开关器件40导通；而位于有效显示区10另一侧的所述第一开关器件40关断，此时可通过检测所述有效显示区10是否正常显示，以此来测试所述第一阵列基板行驱动电路20是否发生故障。

S20、所述第一使能端61输出低电平，所述第二使能端62输出高电平，测试所述第二阵列基板行驱动电路30是否正常工作。

反之，当所述第一使能端61低电平而所述第二使能端62为高电平时，位于有效显示区10另一侧的所述第二开关器件50导通，此时可通过检测所述有效显示区10是否正常显示，以此来测试所述第二阵列基板行驱动电路30是否发生故障。

S30、对出现故障一侧的电压测试引脚70的电压进行检测。

通过从电压测试引脚检测阵列基板行驱动单元的输出电压，可检测阵列基板行驱动单元是否发生故障，从而找出具体的故障位置。

通过设置所述第一使能端61和所述第二使能端62的输出电平相反，在同一时刻只有一侧的所述第一阵列基板行驱动电路20或所述第二阵列基板行驱动电路30与所述扫描线12电性连通，通过对所述第一阵列基板行驱动电路20或所述第二阵列基板行驱动电路30分别进行单侧检测，再通过从电压测试引脚检测阵列基板行驱动单元的输出电压，可检测阵列基板行驱动单元是否发生故障，从而找出具体的故障位置。本申请可检测双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板中阵列基板行驱动电路的故障，方便维修人员进行更换修理，提高故障的检测效率。

以上所述仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是在本申请的发明构思下，利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。