首页> 中国专利> 面向齿轮齿面形状误差的变角度同步相移干涉测量方法

面向齿轮齿面形状误差的变角度同步相移干涉测量方法

摘要

本发明公开了一种面向齿轮齿面形状误差的变角度同步相移干涉测量方法,沿测量光路设置有前双光楔、后双光楔;沿扫描测量光路设置有结构光传感器,前双光楔与后双光楔之间放置被测齿轮。将双光楔引入到了测量光路,定量改变入射角照射到被测齿面的角度,从而调整干涉条纹的密度分布方便相位数据处理;将结构光传感器引入干涉测量装置中,投射的结构光通过在测量过程中与被测物表面的相对运动,结合干涉测量数据,使得在对大螺旋角复杂螺旋曲面进行测量时可以保证全场测量。本发明的测量方法将空间相移技术引入到干涉测量装置中,通过单次测量拍摄能够得到多张移相干涉图,简化了操作流程步骤,提升了装置的抗干扰能力。

著录项

  • 公开/公告号CN112268521A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安理工大学;

    申请/专利号CN202011063563.7

  • 发明设计人 王晛;方素平;寇科;翁浚;

    申请日2020-09-30

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构61214 西安弘理专利事务所;

  • 代理人弓长

  • 地址 710048 陕西省西安市碑林区金花南路5号

  • 入库时间 2023-06-19 09:40:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-14

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号