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一种基于三维稀疏成像的RCS测量方法

摘要

本发明公开了一种基于三维稀疏成像的RCS测量方法。首先,它利用阵列三维SAR获取被测目标区域的回波数据矩阵;利用脉冲压缩和频率升采样技术完成初步信号处理;利用三维BP算法得到目标近场散射分布的三维复图像;然后采用一种新颖的基于复图像的稀疏成像方法对目标旁瓣和杂波进行抑制;利用补偿因子及定标技术,最终得到被测目标的RCS方向图。与经典的基于图像的RCS测量方法相比,本发明方法不受旁瓣及杂波的影响,能够提取出目标的三维散射特征分布,具有测量精度高、适用性广等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN112230221A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202011014917.9

  • 申请日2020-09-24

  • 分类号G01S13/90(20060101);G01S7/41(20060101);G01S7/292(20060101);G01S7/28(20060101);G06T17/00(20060101);

  • 代理机构51203 电子科技大学专利中心;

  • 代理人曾磊

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 09:33:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-06

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01S13/90 专利申请号:2020110149179 申请公布日:20210115

    发明专利申请公布后的视为撤回

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