公开/公告号CN112214951A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-01-12
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉大学;
申请/专利号CN202011116964.4
申请日2020-10-19
分类号G06F30/367(20200101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);G06F119/02(20200101);G06F119/04(20200101);G06F119/08(20200101);
代理机构42102 湖北武汉永嘉专利代理有限公司;
代理人张宇
地址 430072 湖北省武汉市武昌区八一路299号
入库时间 2023-06-19 09:32:16
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-05-24
授权
发明专利权授予
机译: 基于粘接线劣化的IGBT模块可靠性评估方法和装置
机译: IGBT双脉冲测试方法和系统,IGBT控制方法和逆变器控制器
机译: 信息系统的可靠性评估系统,可靠性评估方法和可靠性评估程序