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分段式LSTM的微网逆变器IGBT可靠性评估方法及系统

摘要

本发明公开了一种基于分段式LSTM的微网逆变器IGBT可靠性评估融合方法及系统,包括:建立电热耦合模型,获得实时的结温数据;针对IGBT老化的特性对原LSTM算法进行改进得到分段式LSTM预测网络;利用IGBT老化参数的监测值进行分段LSTM预测,获得预估老化进程,并就此划分不同老化阶段的阈值;对比阈值与监测数据,实时判断IGBT的老化阶段,并对电热耦合模型参数进行老化修正,确保结温数据的准确性;利用雨流计数法对结温数据进行处理,计算IGBT实时的热应力载荷分布;结合疲劳损伤理论和Lesit寿命预测模型,计算IGBT的实时的累积损伤度和预估寿命。本发明将可靠性分析与状态监测结合,以计及IGBT老化进程对于可靠性分析的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN112214951A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN202011116964.4

  • 申请日2020-10-19

  • 分类号G06F30/367(20200101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);G06F119/02(20200101);G06F119/04(20200101);G06F119/08(20200101);

  • 代理机构42102 湖北武汉永嘉专利代理有限公司;

  • 代理人张宇

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区八一路299号

  • 入库时间 2023-06-19 09:32:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-24

    授权

    发明专利权授予

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