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FPGA芯片内的测试逻辑分析单元

摘要

本发明公开了一种FPGA芯片内的测试逻辑分析单元。该测试逻辑分析单元包括逻辑分析模块,用于对被测用户逻辑单元输出的输出信号进行自动化分析;PCIE模块,用于使测试逻辑分析单元与外部计算机进行通信。本发明的测试逻辑分析单元可以在FPGA芯片内部实现对用户功能逻辑的输出信号进行自动化正确性分析。

著录项

  • 公开/公告号CN112198424A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州加速科技有限公司;

    申请/专利号CN202011024159.9

  • 发明设计人 陈永;邬刚;

    申请日2020-09-25

  • 分类号G01R31/3177(20060101);G01R31/317(20060101);G06F13/28(20060101);

  • 代理机构11517 北京市君合律师事务所;

  • 代理人王再芊;毕长生

  • 地址 311121 浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-1号1幢103M室

  • 入库时间 2023-06-19 09:29:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-04-25

    授权

    发明专利权授予

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