SQUID器件电磁参数测试方法、装置和计算机设备

摘要

本申请涉及一种SQUID器件电磁参数测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取电磁参数测试的配置信息，根据第一电磁参数的配置信息确定第一电磁参数的各个观测值；采集在第一电磁参数的各个观测值下对应的第二电磁参数的检测值；根据第一电磁参数的各个观测值及对应的第二电磁参数的检测值，确定所述第二电磁参数与第一电磁参数的变化关系，或者，根据第二电磁参数的检测值确定对应的第三电磁的检测值，根据第一电磁参数的各个观测值及对应的第三电磁参数的检测值，确定第三电磁参数与第一电磁参数的变化关系。通过本测试方法可以对SQUID器件进行温度控制、磁场调节，可以准确的监测到SQUID在低温超导态的周期震荡现象，且准确。