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公开/公告号CN112129787A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-25
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院上海技术物理研究所;
申请/专利号CN202010966408.X
发明设计人 胡伟达;陈允枫;王振;叶家富;李庆;王芳;张莉丽;王鹏;陈效双;陆卫;
申请日2020-09-15
分类号G01N23/04(20180101);G01N1/28(20060101);G01N1/44(20060101);
代理机构31311 上海沪慧律师事务所;
代理人郭英
地址 200083 上海市虹口区玉田路500号
入库时间 2023-06-19 09:18:22
机译: 用于调整TEM样品厚度的TEM Zig及其制备方法
机译: 用于催化剂转移膜的基质膜及其制备方法,催化剂转移膜的制备方法和催化剂涂膜
机译: 用于催化剂转移膜的底物膜及其制备方法,用于制备催化剂转移膜的方法和具有催化剂层的电解质膜
机译:用于沉积在金属基底上的膜的截面TEM样品制备方法
机译:用于沉积在聚合物基材上的金属薄膜横截面的另一种FIB TEM样品制备方法(会议论文)
机译:用于Ti6Al4V芯片分析的截面TEM样品制备-制备方法和少量结果
机译:一种用Fib ex-situ升空技术在半导体器件中使用改进的铜环使用FIB ex-situ升空技术的精确TEM样品制备方法
机译:纳米粒子辅助激光解吸/电离质谱:用于植物代谢物成像的新型样品制备方法和纳米粒子筛选。
机译:一种成本效益灵敏和环保的样品制备方法用于测定固体样品中的多环芳烃
机译:具有FIB的样品制备方法,用于材料科学的原位TEM观测 ^ ^ MDASH; FIB用玻璃机械手^ ^ mdash制备TEM样本;
机译:通过xrf定量干燥残留物样品中的镓:用于分析钚金属的改进的样品制备方法