首页> 中国专利> 一种基于分光谱技术的荧光寿命成像方法和装置

一种基于分光谱技术的荧光寿命成像方法和装置

摘要

本发明公开了一种基于分光谱技术的荧光寿命成像装置,包括光源,会聚所述光源发出的激发光并激发样品发出荧光的显微物镜;设置有:分光谱模块,用于将所述显微物镜收集的荧光进行分光谱;探测模块,用于接收分光谱后不同波段的荧光分子;计数模块,用于对荧光分子进行光子计数,并计算荧光寿命信息。同时,本发明还公开了一种一种基于分光谱技术的荧光寿命成像方法。本发明引入分光谱技术,将宽波段的荧光信号分解通过分光谱模块分解至不同的通道中被不同的探测器接收,从而大大缓解了传统方法中单探测器死程时间对于荧光寿命测量的影响,缓解了荧光寿命测量的光子堆积效应的问题,提高了光子的有效探测效率,提升寿命成像的速度。

著录项

  • 公开/公告号CN112113939A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN202010762173.2

  • 发明设计人 匡翠方;刘少聪;董婉潔;王文生;

    申请日2020-07-31

  • 分类号G01N21/64(20060101);G01J3/44(20060101);G01J3/28(20060101);G01J3/12(20060101);G01J3/02(20060101);G02B21/00(20060101);

  • 代理机构33224 杭州天勤知识产权代理有限公司;

  • 代理人米志鹏

  • 地址 310013 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

  • 入库时间 2023-06-19 09:16:49

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号