高兼容SD卡模型和基于高兼容SD卡模型的控制器测试方法

摘要

本发明提供一种高兼容SD卡模型和基于高兼容SD卡模型的控制器测试方法，所述SD卡模型包括：多类型参数物理层，所述多类型参数物理层配置有多种SD卡类型及各种SD卡类型对应的通信协议；功能参数描述层，所述功能参数描述层配置有多种SD卡类型对应的功能参数；参数切换模块，所述参数切换模块根据选定的目标SD卡类型调用相应通信协议和相应功能参数。可有效提高模型的兼容性、灵活性、仿真验证覆盖率和验证效率。兼容各种SD卡类型和版本，仅需要修改参数即可达到测试不同SD卡的目的。此外，当SD卡版本更新时，代码可方便扩展，以快速适应新版本SD卡的仿真测试。