公开/公告号CN112085734A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-15
原文格式PDF
申请/专利权人 西安交通大学;
申请/专利号CN202011024273.1
申请日2020-09-25
分类号G06T7/00(20170101);G06T7/13(20170101);G06T7/136(20170101);G06T7/44(20170101);G06T5/00(20060101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);
代理机构61200 西安通大专利代理有限责任公司;
代理人闵岳峰
地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号
入库时间 2023-06-19 09:12:09
机译: 一种使用塑料光纤芯直径的测量方法和一种塑料光纤芯直径的测量装置,以及一种使用该方法的塑料光纤缺陷检测方法和塑料光纤的缺陷检测装置
机译: 用于二元和三元合金或固溶体形成羟基接触的薄膜电极,用于形成高质量的基于GaN的光学器件的P型热薄膜,并提供了一种使镁-碳键合断裂的方法和增加断裂的方法周围的GaN表面
机译: 图像缺陷检测方法和图像缺陷恢复方式,是一种检测图像缺陷检测装置和图像缺陷的方法