首页> 中国专利> 一种用于有源天线多探头幅相测试的可调探头阵列装置及方法

一种用于有源天线多探头幅相测试的可调探头阵列装置及方法

摘要

本发明涉及有源天线幅相测试的设备及方法。一种用于有源天线多探头幅相测试的可调探头阵列装置,包括多个探头和支撑板,所述支撑板上设有镂空的探头可调区域,所述的探头可调区域呈阵列排布,每个探头可调区域内安装一个探头,组成探头阵列。本发明的可调探头阵列装置,根据各探头在X/Y方向间距调整特点,采用多探头联动方案,间距调整驱动更为简单,对于典型的2×4阵列所需电机数量由10台减少为3台,在保证兼容性的同时降低了系统复杂度,提高了系统可靠性;采用镂空式整体探头支撑板结构,稳定性更好,且避免了各探头之间的相互碰撞;多层交错式吸波材料设计型式,保证探头间距调整过程中的吸波材料全覆盖,避免对测量精度造成影响。

著录项

  • 公开/公告号CN112034267A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东大学;

    申请/专利号CN202010847551.7

  • 发明设计人 杜刘革;陈伟;赵佳;于晓旭;何勰;

    申请日2020-08-19

  • 分类号G01R29/10(20060101);

  • 代理机构37247 青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人马千会

  • 地址 250013 山东省青岛市即墨区滨海路72号

  • 入库时间 2023-06-19 09:06:00

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号