漏磁检测表征缺陷宽度的方法

摘要

本发明漏磁检测表征缺陷宽度的方法，该方法利用轴向漏磁变化率的极值点间的轴向距离来表征缺陷宽度，从信号的变化率角度进行考虑，轴向漏磁相对其他两个分量受提离距离影响程度低，在不同提离距离下时，获得的缺陷宽度差距较小，精度较高。本方法不受缺陷深度的大小和信号采集过程中装置提离距离波动的影响，稳定表征大于max(x1,x2)的缺陷宽度；并且由于max(x1,x2)较小，对max(x1，x2)以下的缺陷宽度定性分析标定为小缺陷宽度，所以本方法在缺陷宽度未知，提离距离一定范围内波动，且未知具体提离距离下，能更精确标定缺陷宽度，抗干扰能力更强，实现方法更加简单。