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一种基于红外光谱的复合绝缘子老化程度评估方法

摘要

一种基于红外光谱的复合绝缘子老化程度评估方法,其特征在于,所述评估方法包括以下步骤:步骤1:在待测复合绝缘子高压端、复合绝缘子总长的1/2处即中部、低压端各选取一片硅橡胶伞裙作为测试样品;步骤2:对测试样品进行傅里叶红外光谱测试,获得测试样品的红外光谱;步骤3:根据傅里叶红外光谱图计算Si‑CH3和Si‑O‑Si的红外吸收峰面积;步骤4:根据计算结果对复合绝缘子的老化程度进行等级划分。本发明提出的方法具有取样方便、测量简单、数据准确等优点,能够很好地满足复合绝缘子老化程度的测试和评估需求。

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法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-10-27

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/3563 专利申请号:2020107331655 申请公布日:20201127

    发明专利申请公布后的驳回

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