一种基于JTAG的FPGA芯片自动化测试方法

摘要

本发明实施例提供了一种现场可编程门阵列芯片的自动化测试方法，所述方法包括：获取现场可编程门阵列的功能仿真结果；将功能仿真结果转成包含若干JTAG测试向量的JTAG测试用例；将若干JTAG测试向量，依次通过JTAG接口将每个JTAG测试向量发送到FPGA芯片；并通过JTAG接口读取FPGA芯片的输出结果；将输出结果与功能仿真结果进行比对；根据比对的结果，得到该JTAG测试用例的测试结果。该方法以自动化方式，将FPGA芯片流片前的大量功能仿真验证结果，直接应用到芯片的验证当中,并且不需要借助外围测量设备既可直接获得验证结果，提高了测试FPGA芯片的测试效率，同时降低了测试成本。