一种基于JTAG协议的SiP测试方法

摘要

介绍了一种基于JTAG测试技术的系统化SiP测试方法.针对SiP的设计要求、测试需求、测试流程和测试评价指标4个方面,提供一套完整的SiP测试解决方案.实验表明,运用JTAG测试技术对信号处理SiP电路进行互连测试,可以精准地测试和定位出电路内部的异常和故障,有效提升了SiP系统内封装模块对外测试的透明度,降低了测试的黑盒效应.