首页> 中国专利> 基于实验室X射线源的高温在位加载CT测试系统及其方法

基于实验室X射线源的高温在位加载CT测试系统及其方法

摘要

本发明公开了一种基于实验室X射线源的高温在位加载CT测试系统及其方法。本发明采用动密封装置,允许上压杆和下拉压杆沿周向的旋转和轴向的移动,同时高温炉固定不动并不跟随移动和转动,使得能够将高温炉在成像方向上设计成为扁平,以缩短成像距离,提高成像质量;采用独立的拉伸试验机进行加载,因而可实现大载荷加载;本发明实现了对试样在高温环境下受拉压载荷作用时内部变形和损伤信息的在位测量,利用高温装置小型化设计,提高了利用实验室X射线源进行损伤测试的精确性;实现了对高温材料内部的损伤和失效行为的测试和研究,提高了材料损伤测试的准确性和经济性,可行性高,适用性广,操作简单。

著录项

  • 公开/公告号CN111948065A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN202010919262.3

  • 发明设计人 方岱宁;曲兆亮;朱容岐;杨硕;

    申请日2020-09-04

  • 分类号G01N3/18(20060101);G01N3/06(20060101);G01N23/046(20180101);

  • 代理机构11360 北京万象新悦知识产权代理有限公司;

  • 代理人王岩

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2023-06-19 08:56:41

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号