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硅片贴合气泡数量评估方法及图像传感器结构制备方法

摘要

本发明提供一种硅片贴合气泡数量的评估方法以及图像传感器结构的制备方法,硅片贴合气泡数量的评估方法包括基于待评估硅片上预设长度内硅片厚度变化均匀性来评估待评估硅片上产生的气泡数量。通过上述方案,本发明在硅片贴合之前对硅片的贴合气泡数量进行预估,可以在工艺前预判气泡数量,从而提供工艺的准确性,提高得到产品的良率,本发明基于现有设备输出硅片厚度形貌,并对其获取的数据进行处理,从而预估贴合气泡的数量,预估方式简便有效,提高工作效率。

著录项

  • 公开/公告号CN111952210A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海新昇半导体科技有限公司;

    申请/专利号CN201910402699.7

  • 发明设计人 何昆哲;

    申请日2019-05-15

  • 分类号H01L21/67(20060101);H01L27/146(20060101);

  • 代理机构31219 上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人佟婷婷

  • 地址 201306 上海市浦东新区泥城镇新城路2号24幢C1350室

  • 入库时间 2023-06-19 08:55:10

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