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一种基于空谱径向基函数插值的条带修复方法

摘要

本发明涉及一种基于空谱径向基函数插值的条带修复方法,该方法首先对已知辅助影像进行全局直方图匹配,得到在特征空间内更接近待修复影像的已知影像;然后使用空谱径向基函数对待修复像元在时间上的反射率变化进行插值计算,得到各波段已知影像像元与待修复像元之间的反射率变化;最后将预测的变化值与已知影像上对应的缺失像元位置的数据相加,得到该缺失像元的最终预测结果。与现有技术相比,本发明能够有效地综合已知图像与待修复图像的有用信息,具有更好的修复效果。

著录项

  • 公开/公告号CN111915519A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 同济大学;

    申请/专利号CN202010746256.2

  • 发明设计人 王群明;王蓝星;

    申请日2020-07-29

  • 分类号G06T5/00(20060101);G06F17/18(20060101);G06F17/15(20060101);G06K9/62(20060101);

  • 代理机构31225 上海科盛知识产权代理有限公司;

  • 代理人叶敏华

  • 地址 200092 上海市杨浦区四平路1239号

  • 入库时间 2023-06-19 08:50:28

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