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一种基于光热效应的双波长主动式激光测温装置

摘要

本发明提供了一种基于光热效应的双波长主动式激光测温装置,包括:第一激光发生器和第二激光发生器;激光调制器、所述激光调制器与所述第一激光发生器和第二激光发生器连接;待测物体的目标表面在第一激光或第二激光的加热下产生温升△T,目标表面在一定立体角内发出的辐射能经物镜和分光镜,温升对应的辐射信号入射到第一光热效应探测器或第二光热效应探测器;光热效应探测器将光信号转化成热信号;放大器将来自第一光热效应探测器和第二光热效应探测器的信号进行放大;计算电路将电信号转换为温度数值;显示仪表用于显示温度测量数值。本装置可摆脱传统辐射测温方法对被测物体表面发射率的依赖,可便捷和准确地获取被测物理的表面真实温度。

著录项

  • 公开/公告号CN111879413A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量科学研究院;

    申请/专利号CN202010771348.6

  • 申请日2020-08-04

  • 分类号G01J5/00(20060101);G01J5/02(20060101);

  • 代理机构11588 北京华仁联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈建

  • 地址 100013 北京市朝阳区北三环东路18号

  • 入库时间 2023-06-19 08:48:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-18

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01J 5/00 专利申请号:2020107713486 申请公布日:20201103

    发明专利申请公布后的驳回

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