首页> 中国专利> 一种通过聚焦激光束测量气膜孔的形位参数的方法及系统

一种通过聚焦激光束测量气膜孔的形位参数的方法及系统

摘要

本发明实施例公开了一种通过聚焦激光束测量气膜孔的形位参数的方法和系统,该方法可以包括:将所述聚焦激光束在所述气膜孔的孔壁内表面上旋切扫描一周;扫描过程中采集所述孔壁内表面产生的漫反射激光的表征量;相应于所述聚焦激光束的焦点沿着所述孔壁内表面移动,根据所述漫反射激光的表征量获取所述气膜孔的形位参数。

著录项

  • 公开/公告号CN111854604A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010736560.9

  • 申请日2020-07-28

  • 分类号G01B11/00(20060101);G01B11/24(20060101);

  • 代理机构61253 西安维英格知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李斌栋;姚勇政

  • 地址 710066 陕西省西安市高新区丈八街办创汇路32号电子一车间301室

  • 入库时间 2023-06-19 08:45:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-22

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号