大容量存储器功能测试全覆盖的方法

摘要

本发明涉及大容量存储器功能测试全覆盖的方法，包括以下步骤：划分存储器的存储空间；编写初始测试图形向量；测试系统首次测试；设置循环执行条件；生成新测试图形向量；修改测试程序运行流程，循环N次，输出总测试结果，退出程序。本发明通过将大容量存储器分区，选取第一个子块区域实现测试，其它子块区域则通过高级语言编程的方式，自动修改存储器测试向量，设置循环次数，实现大容量存储器功能测试全覆盖。测试系统只需要满足第一个子块区域测试所需的条件，其它子块区域通过高级语言自动修改测试图形向量，重复执行测试流程的方法，不另外占用系统资源，并且简化了图形向量的编写，灵活地实现大容量存储器功能测试全覆盖。