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光学元件激光诱导损伤特征瞬态测量装置及检测方法

摘要

一种光学元件激光诱导损伤特征瞬态测量装置及测量方法。该装置包括光源、第一分光镜、第二分光镜、第一反射镜、第二反射镜、光束整形滤波系统、偏振延迟控制系统、样品台、损伤特征在线测量系统、能量控制系统、聚焦系统、光束质量诊断系统、光闸、光阱、计算机;本发明将强激光光束分束,一部分作为损伤测试光束,一部分作为探测光束,采用偏振延迟控制系统,调节探测光束与损伤测试光束的间隔时间,结合损伤特征在线测量系统,在脉冲激光作用后不同时刻探测光学元件被辐照区域的相位信息及光强信息,获得损伤区域三维形貌及透过率分布的相对变化量。

著录项

  • 公开/公告号CN111829757A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010678889.4

  • 申请日2020-07-15

  • 分类号G01M11/02(20060101);G01B11/24(20060101);G01N21/59(20060101);

  • 代理机构31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张宁展

  • 地址 621900 四川省绵阳市绵山路64号

  • 入库时间 2023-06-19 08:41:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-01-28

    授权

    发明专利权授予

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