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Study on Control System for Measuring Device of Large-size Optical Components and Data Processing Technology

机译:大型光学元件测量装置控制系统及数据处理技术研究

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摘要

随着非球面等光学元件被广泛地应用于不同领域中,光学元件正在向小型高精度化和大型高精度化方向发展,这对光学元件的加工与检测提出了更高的要求。各国投入了大量的人力、物力研究光学元件的加工和检测问题,但目前国内的研究技术主要针对小尺寸元件的检测,对大尺寸元件的检测技术仍十分薄弱。本文基于自主研发的大尺寸光学元件检测系统,对精密检测控制、合理的检测方法与数据处理技术进行了系统研究,主要工作如下: 1.根据大尺寸光学元件检测的特点和要求,自主设计了检测系统。完成检测系统的主要部件选型和检测平台搭建。介绍检测系统的硬件连接及控制方案的实施;通过调试做到有效控制,高精度控制。 2.以检测系统的硬件作为依...
机译:随着非球面等光学元件被广泛地应用于不同领域中,光学元件正在向小型高精度化和大型高精度化方向发展,这对光学元件的加工与检测提出了更高的要求。各国投入了大量的人力、物力研究光学元件的加工和检测问题,但目前国内的研究技术主要针对小尺寸元件的检测,对大尺寸元件的检测技术仍十分薄弱。本文基于自主研发的大尺寸光学元件检测系统,对精密检测控制、合理的检测方法与数据处理技术进行了系统研究,主要工作如下: 1.根据大尺寸光学元件检测的特点和要求,自主设计了检测系统。完成检测系统的主要部件选型和检测平台搭建。介绍检测系统的硬件连接及控制方案的实施;通过调试做到有效控制,高精度控制。 2.以检测系统的硬件作为依...

著录项

  • 作者

    朱永炉;

  • 作者单位
  • 年度 2010
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 zh_CN
  • 中图分类

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