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视觉检查模块、其元件检查系统及其元件检查方法

摘要

本发明涉及视觉检查模块、其元件检查系统及其元件检查方法,更详细地说,涉及针对半导体元件执行视觉检查的视觉检查模块、其元件检查系统及其元件检查方法。本发明公开了一种视觉检查模块(100),作为执行平面形状为直角四边形的元件(1)的视觉检查的视觉检查模块(100),包括:图像获取部(110),用于获取元件(1)的图像;光路形成部(120),选择性形成第一光路(L1)和一对第二光路(L2),所述第一光路(L1)为使元件(1)的第一平面的第一平面图像到达所述图像获取部(110),所述一对第二光路(L2)为使所述元件(1)的相对的一对侧面的一对侧面图像到达所述图像获取部(110)。

著录项

  • 公开/公告号CN111819435A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 宰体有限公司;

    申请/专利号CN201980017704.0

  • 发明设计人 柳弘俊;白京奂;裵秀珉;张成厦;

    申请日2019-03-07

  • 分类号G01N21/88(20060101);G01N21/13(20060101);G06T7/00(20170101);H01L21/66(20060101);

  • 代理机构11384 北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人郑青松

  • 地址 韩国忠清南道天安市西北区稷山邑4产团3路135

  • 入库时间 2023-06-19 08:36:28

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