闪存卡耐久性测试中测试参数设置方法及系统

摘要

本发明的一种闪存卡耐久性测试中测试参数设置方法及其系统，确定需要设定的参数；生存一个外部参数设置界面，所述界面包括若干参数录入窗口；点击参数录入窗口，输入相应设定的参数；录入完毕，点击界面中的测试启动，通过一个外部参数设置的界面，包含了所有需要设定的参数，这样只需一次设定，在程序内部就会将这些参数值带入到相应的测试部分。快捷的同时，降低了多次人工操作可能带来的失误。