首页> 中国专利> 一种基于勒贝格采样的闪烁探测多参数仪及谱学方法

一种基于勒贝格采样的闪烁探测多参数仪及谱学方法

摘要

本发明公开了一种基于勒贝格采样的闪烁探测多参数仪及谱学方法,该闪烁探测多参数仪包括外壳、电源管理模块、闪烁探测器、信号处理模块、数据采集模块、微控制模块和显示器;通过入射辐射射入闪烁晶体并在闪烁晶体中损耗能量,引起闪烁原子的电离和激发,受激发电子发出可见光,经光导器件传输至光电倍增管后转换为脉冲信号,所得脉冲信号经过信号处理模块、数据采集模块处理后,通过微控制模块将探测结果传输至显示器进行显示。本发明方法操作简单,外壳上设置五个按键可以对参数仪直接进行操作,界面清晰明了,同时基于勒贝格采样方法对闪烁脉冲的时间信号进行采样,获得的测试数据稳定、可靠。

著录项

  • 公开/公告号CN111751863A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南昌大学;

    申请/专利号CN202010601602.8

  • 发明设计人 邓贞宙;唐庆;

    申请日2020-06-29

  • 分类号G01T1/02(20060101);G01T1/202(20060101);G01T1/208(20060101);G01T1/36(20060101);

  • 代理机构36123 南昌青远专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人唐棉棉

  • 地址 330000 江西省南昌市东湖区红谷滩新区学府大道999号

  • 入库时间 2023-06-19 08:30:12

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号