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一种采用金刚石抛光膏的碳化硅晶片快速抛光方法

摘要

本发明涉及半导体材料技术领域,尤其涉及一种采用金刚石抛光膏的碳化硅晶片快速抛光方法,包括如下步骤:将SiC晶片装好在放置装置的无蜡吸附垫上;在抛光垫上涂抹粒径为0.2~1.0μm金刚石抛光膏;将所述放置装置放置于抛光设备上,将所述抛光设备的磨抛压力设置为25~255g/cm2、抛光盘转速为30~60rpm,抛光头转速为10~55rpm;往所述抛光盘中加入1~20ml/min的液体对所述SiC晶片执行抛光操作,且每间隔20~60分钟补涂所述金刚石抛光膏;对SiC晶片进行清洗及检测,抛光完毕。本发明可以快速抛光碳化硅晶片表面,该方法还能使生产出的碳化硅晶片拥有低损伤层和低表面粗糙度。

著录项

  • 公开/公告号CN111745468A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东莞市天域半导体科技有限公司;

    申请/专利号CN202010500927.7

  • 申请日2020-06-04

  • 分类号B24B1/00(20060101);B24B29/02(20060101);

  • 代理机构44332 广东莞信律师事务所;

  • 代理人谢树宏

  • 地址 523000 广东省东莞市松山湖北部工业城工业北一路5号二楼办公楼

  • 入库时间 2023-06-19 08:30:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-11

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):B24B 1/00 专利申请号:2020105009277 申请公布日:20201009

    发明专利申请公布后的驳回

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