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回转体回转精度测试装置及方法

摘要

本发明公开了回转体回转精度测试装置及方法,属于测距技术领域。该测试装置包括:基准件、测距件、以及数据采集器;基准件相对于地面固定,且位置可调,以使其中轴与回转体的回转中轴重合;测距件与回转体相对固定,测距件的测试端正对基准件的中轴,以获取测试端与基准件的表面之间的距离;数据采集器与测距件连接,用于采集测距件测得的距离数据,并根据距离数据得到回转体的回转精度。通过基准件确定回转体的回转中轴的初始几何位置,测距件随回转体一同旋转并测取其测试端与基准件表面之间的距离,能对旋转的大型回转体回转精度进行测量。

著录项

  • 公开/公告号CN111750756A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201910252746.4

  • 发明设计人 郭召;杨跃明;

    申请日2019-03-29

  • 分类号G01B5/02(20060101);G01B21/02(20060101);

  • 代理机构11138 北京三高永信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人林鑫

  • 地址 518017 广东省深圳市南山区北环大道9116号富华科技大厦B座8楼

  • 入库时间 2023-06-19 08:28:36

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