首页> 中国专利> 一种批改作业试题的方法

一种批改作业试题的方法

摘要

本发明公开了一种批改作业试题的方法,包括如下步骤:S1、两张图片直接使用原图,不进行预处理,使用OpenCV库提供的sift方法进行特征提取;S2、使用flann的kdtree匹配方法来进行特征匹配;S3、使用OpenCV的findHomography方法来计算单应性矩阵H,再对图B进行相应处理,得到图C;S4、将图A上的标注框按相同位置在图C上进行截取答案的图片;S5、将上一步骤S4的图片利用OCR技术进行识别,并和标准答案进行比对和评分,并按照打分规则将分数在试题右上角标出,本发明结构科学合理,使用安全方便,提供了一种能够对作业试题进行批改的方法,可以有效减轻教师的工作量,提高教师的工作效率。

著录项

  • 公开/公告号CN111709375A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉唯理科技有限公司;

    申请/专利号CN202010559202.5

  • 发明设计人 王家奎;王旺;

    申请日2020-06-18

  • 分类号G06K9/00(20060101);G06K9/46(20060101);G06K9/62(20060101);

  • 代理机构32327 南京鼎傲知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘蔼民

  • 地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区华工科技园创新企业基地2号楼A单元一层一号

  • 入库时间 2023-06-19 08:23:55

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号