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使用监督学习细化量子位校准模型

摘要

描述了一种用于细化量子位校准模型的计算机实现的方法。该方法包括在学习模块处接收训练数据,其中训练数据包括:多个校准数据集,其中每个校准数据集从包括一个或多个量子位的系统中导出;以及多个参数集,每个参数集包括使用相应的校准数据集获得的提取的参数,其中提取参数包括使用拟合算法将量子位校准模型拟合到相应的校准数据集。该方法还包括在学习模块处执行监督机器学习算法,该算法处理训练数据以学习量子位校准模型的扰动,该扰动捕获多个校准数据集中没有被量子位校准模型捕获的一个或多个特征,从而提供细化的量子位校准模型。

著录项

  • 公开/公告号CN111712842A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 谷歌有限责任公司;

    申请/专利号CN201780097753.0

  • 发明设计人 P.克利莫夫;J.S.凯利;

    申请日2017-12-15

  • 分类号G06N20/00(20190101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人金玉洁

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 08:22:20

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