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第一镜样品辐照支架与辐照方法

摘要

本发明属于材料与高温等离子体相互作用及高温等离子体诊断研究领域,具体涉及一种高真空和强磁场环境中第一镜样品辐照支架与辐照方法。目的是方便温度控制和更换不同材料样品,且不破坏装置真空条件。该辐照支架包括两个平行摆放的样品架,在一个样品架的内部置有陶瓷加热片,在陶瓷加热片上方置有温度传感器A和样品A,在样品A上方压有样品压板A;在另一个样品架的内部置有样品B和温度传感器B,在样品B上方压有样品压板B;所述陶瓷加热片、温度传感器A、温度传感器B的电源线与信号线与外部电源和显示器相连。该辐照支架便于同一等离子体放电情况下不同样品条件的实验比较,且避免了220V交流电源对等离子体放电的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN102222528B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-02-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 核工业西南物理研究院;

    申请/专利号CN201110089451.3

  • 发明设计人 周艳;洪文玉;刘泽田;焦一鸣;

    申请日2011-04-11

  • 分类号G21B1/11(20060101);G21B1/23(20060101);G01T1/02(20060101);

  • 代理机构11007 核工业专利中心;

  • 代理人高尚梅

  • 地址 610041 四川省成都市武侯区二环路南三段三号

  • 入库时间 2022-08-23 09:13:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-02-13

    授权

    授权

  • 2011-11-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G21B 1/11 申请日:20110411

    实质审查的生效

  • 2011-10-19

    公开

    公开

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