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公开/公告号CN111664870A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-09-15
原文格式PDF
申请/专利权人 北京控制工程研究所;
申请/专利号CN202010501437.9
发明设计人 袁利;王立;武延鹏;张承钰;王苗苗;郑然;王晓燕;程会艳;钟俊;
申请日2020-06-04
分类号G01C25/00(20060101);
代理机构11009 中国航天科技专利中心;
代理人庞静
地址 100080 北京市海淀区北京2729信箱
入库时间 2023-06-19 08:16:01
机译: 平板探测器的几何成像特性的检测方法,相应配置的x射线检测系统和标定机构
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