3D NAND Flash存储器的测试算法及其装置

摘要

本发明提供一种3D NAND Flash存储器3D NAND Flash存储器的测试算法及其装置，基于3D NAND Flash存储器的结构，考虑3D NAND Flash存储器的故障模型，提出新的测试方法，按照特定的测试顺序和测试向量进行测试，可以更多覆盖或进一步全面覆盖3D NAND Flash存储器干扰故障。