在自动化测试中处理集成电路

摘要

一种用于在自动化测试中处理集成电路的装置包括可选择性地在测试表面上方平移的上部组件(230)，以及从上部组件(230)延伸并位于其下方的下部支架(250)。下部支架(250)形成第一开口，可选择性地上下移动，包括向下延伸的用于将集成电路(295)拾取并放置在插座中的可旋转指状件(270)。该装置还可以包括用于检测潜在错误情况的图像传感器和从下部支架(250)延伸以打开和闭合插座上的盖子的工具。