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一种采用结构光空间定位和二维工业CT检测叶片方法

摘要

本发明属于涡轮叶片检测技术领域,涉及一种采用结构光空间定位和二维工业CT检测叶片方法,方法首先利用结构光重建叶片外观三维模型,之后与叶片设计模型进行配准,由于结构光中心线与CT扫描层位置重合(或者二者存在固定位置差异),配准后结构光图像的中心位置就是实际叶片的CT扫描位置,该位置就是检测的基准位置,然后用该位置处的模型切片与CT图像进行精配准计算出二者的差异,获得制造误差,判定叶片是否合格。本方法与采用传统二维扇形CT进行三维叶片重构然后进行比对检测相比,检测效率大幅提高;而与锥束CT叶片检测相比,测量精度明显提高,检测范围大大增加。本方法通过在传统CT上增加结构光设备,实现叶片的快速、高精度的CT检测。

著录项

  • 公开/公告号CN111612768A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆大学;

    申请/专利号CN202010437489.4

  • 发明设计人 张子龙;沈宽;

    申请日2020-05-21

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/33(20170101);G06T7/73(20170101);G06T17/20(20060101);

  • 代理机构11275 北京同恒源知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵荣之

  • 地址 400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号

  • 入库时间 2023-06-19 08:08:08

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