一种NAND闪存中阈值电压分布的测量方法、装置、存储介质

摘要

本发明公开的一种NAND闪存中阈值电压分布的测量方法、装置、存储介质和计算机设备，对数据处理流程进行了改进，使每个存储单元的模板状态、变化前、变化后的单元状态都能够获得，从而能够得到所有单元状态在相应编程状态下的阈值电压分布；另外，针对编程状态的阈值电压宽度非规则的情况和参考电压正向偏移扫过的阈值电压区间会发生重叠的情况，本发明将得到的第一阈值电压分布图中相邻单元状态之间的重叠区域进行移除，最终得到的第二阈值电压分布图能够更加清楚、详细地描述目标NAND闪存的阈值电压分布，还能够根据第一阈值电压分布图和第二阈值电压分布图分别对每个参考电压扫描过的对应状态的阈值电压宽度所需的最大偏移步长进行计算。