一种具有温度补偿的SiC MOSFET短路检测电路和方法

摘要

本发明实施例提供了一种具有温度补偿的SiC MOSFET短路检测电路和方法。该检测电路包括：参考电压产生电路、短路检测电路、短路检测电路、SiC MOSFET和软关断电路；参考电压产生电路通过正温度系数热敏电阻，根据环境温度及SiC MOSFET结温变化产生不同的参考电压，并将参考电压输入短路检测电路，逻辑信号处理电路通过FPGA产生两种不同的故障检测盲区时间发送到短路检测电路，短路检测电路在短路工况下，基于饱和压降和逻辑处理检测SiC MOSFET的短路故障，输出故障信号，并产生驱动信号发送到软关断电路，软关断电路接收驱动信号后，将SiC MOSFET在短路工况下进行安全关断。本发明能够快速响应，灵活设置盲区时间，提高SiC MOSFET应用的可靠性，满足大功率SiC MOSFET驱动保护的使用需求。