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液晶滴下量安全范围下限的确定方法

摘要

本发明公开了一种液晶滴下量安全范围下限的确定方法,包括:利用非线性静力学分析模型,建立液晶盒的几何模型,所述液晶盒不包括液晶;将液晶盒的几何模型置于标准大气压下;通过静力学分析,计算标准大气压下,液晶盒受压不再发生形变后的上基板、下基板之间间距;计算液晶盒受压不再发生形变时液晶盒内的容纳空间的体积,即为液晶滴下量安全范围下限。本发明通过对低温环境下产品内部结构受力情况进行仿真模拟,从而计算得出产品的液晶滴下量安全范围下限,可以在液晶盒设计定版前就能预测液晶量安全范围下限,从而可以减少实验次数,节省开发成本,加快开发进度。

著录项

  • 公开/公告号CN109031808A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市华星光电技术有限公司;

    申请/专利号CN201810804384.0

  • 申请日2018-07-20

  • 分类号G02F1/1341(20060101);

  • 代理机构44304 深圳市铭粤知识产权代理有限公司;

  • 代理人孙伟峰;阳志全

  • 地址 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号

  • 入库时间 2023-06-19 07:48:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F1/1341 申请日:20180720

    实质审查的生效

  • 2018-12-18

    公开

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