首页> 中国专利> 用于形成低温半导体层及相关半导体器件结构的方法

用于形成低温半导体层及相关半导体器件结构的方法

摘要

公开了一种在低温下形成具有良好膜闭合的金属氮化物膜的方法。所述方法可以包括利用等离子体形成NH和NH2自由基以允许在低温下形成所述金属氮化物。所述方法还可以包括使蚀刻气体流动以产生具有均匀厚度的无定形膜。所述方法还可以包括使烷基肼流动以抑制所述金属氮化物膜的三维岛状生长。

著录项

  • 公开/公告号CN108987336A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASM IP控股有限公司;

    申请/专利号CN201810508072.5

  • 发明设计人 P·雷伊塞宁;M·B·莫萨;P-F·许;

    申请日2018-05-24

  • 分类号H01L21/768(20060101);H01L21/762(20060101);H01L29/78(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人沙永生;乐洪咏

  • 地址 荷兰阿尔梅勒

  • 入库时间 2023-06-19 07:38:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/768 申请日:20180524

    实质审查的生效

  • 2018-12-11

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号