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基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法

摘要

本发明涉及一种基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法,该方法包括下述步骤:计算得到数字微镜列位置与标准波长间的基本函数关系式;计算拟合误差并将其存到“波长误差”Column中的对应位置;针对待测样品,用户选择要测量的预检荧光波长,利用“波长误差”Column中存储的波长误差对预检荧光波长进行校正得到已校准波长,带入步骤二中的基本函数关系式中反算出数字微镜应翻转的列,从而得到待测样品的测量波长,获得准确荧光强度值。带入步骤二中的基本函数关系式中反算出数字微镜应翻转的列位置,从而测量待测样品的测量波长,获得准确荧光强度值。利用本发明能够准确测量待测样品波长位置的荧光强度信息。

著录项

  • 公开/公告号CN108956554A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 吉林大学;

    申请/专利号CN201810477183.4

  • 申请日2018-05-18

  • 分类号G01N21/64(20060101);G01N21/27(20060101);

  • 代理机构22201 长春吉大专利代理有限责任公司;

  • 代理人王淑秋

  • 地址 130012 吉林省长春市前进大街2699号

  • 入库时间 2023-06-19 07:30:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20180518

    实质审查的生效

  • 2018-12-07

    公开

    公开

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