一种基于RTL级功耗分析的错误定位方法及系统

摘要

本发明公开了一种基于RTL级功耗分析的错误定位方法及系统，方法步骤包括获取可执行的被测设计DUT与参考设计REF及测试用例集，依次运行测试用例，对被测设计DUT与参考设计REF分别进行功耗评估分别获取在特定测试激励下的功耗，对功耗结果进行对比与分析，根据功耗对比结果对设计按由顶至底的方式逐层进行功耗缺陷的错误定位分析；验证被测设计DUT中所定位功耗缺陷的准确性；反馈功耗缺陷错位定位报告给设计人员。本发明既可以克服主流验证技术只能定位设计中功能性错误的局限，又能弥补物理设计阶段功耗优化空间较低且设计迭代周期长的不足，能够在微处理器逻辑设计阶段实现早期定位功耗缺陷的功能。