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显微镜光路系统、显微镜及校准方法、装置、设备及介质

摘要

本发明实施例公开了显微镜光路系统、显微镜及校准方法、装置、设备及介质,所述系统包括:光源、起偏模块、分束镜、物镜、检偏模块、物镜电荷藕合器件CCD图像传感器;其中,起偏模块、光源与分束镜在同一水平线上;起偏模块位于光源与分束镜之间,用于将光源发出的光束调制成特定的偏振态;检偏模块、分束镜、物镜以及CCD图像传感器在同一竖直线上;检偏模块位于分束镜与CCD图像传感器之间,用于对分束镜透射的光进行检偏。本发明实施例的技术方案实现提供一种固化的测量装置,避免对穆勒矩阵测量系统中的旋转对称性造成破坏,便于提取测量样品中的角度无关参量。

著录项

  • 公开/公告号CN108828757A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华-伯克利深圳学院筹备办公室;

    申请/专利号CN201810680307.9

  • 申请日2018-06-27

  • 分类号G02B21/06(20060101);G02B21/36(20060101);G02B27/28(20060101);G06F17/16(20060101);

  • 代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人孟金喆

  • 地址 518055 广东省深圳市南山区学苑大道1001号南山智园

  • 入库时间 2023-06-19 07:14:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B21/06 申请日:20180627

    实质审查的生效

  • 2018-11-16

    公开

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