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一种用于微量植物样品EDXRF分析的薄膜制样方法

摘要

本发明公开了一种用于微量植物样品X荧光分析的薄膜制样方法。依次通过清洗、烘干、研磨、称量、抽滤,干燥,压样和封装过程来实现对毫克级微量植物的样品制备。利用本方法制成的薄膜样片操作简单、方便、快捷,表面平整密实,样品分布均匀,在实际测量过程中不会裂开,可应用于个体生物量较少的植株或植物组织,不仅能满足对微量植物样品的X荧光分析研究,而且有利于降低基体效应影响,提高分析准确度。

著录项

  • 公开/公告号CN108844986A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京航空航天大学;

    申请/专利号CN201810690445.5

  • 申请日2018-06-28

  • 分类号G01N23/223(20060101);G01N1/28(20060101);G01N1/38(20060101);G01N1/34(20060101);

  • 代理机构11556 北京恒创益佳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人付金豹

  • 地址 211106 江苏省南京市秦淮区御道街29号

  • 入库时间 2023-06-19 07:14:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20180628

    实质审查的生效

  • 2018-11-20

    公开

    公开

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